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012-芯片测试技术

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20门 系列课程
半导体工艺与制造设备 所属方向
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01
《ATE测试参数配置与通信接口调优实战》
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02
《BIST内建自测试与ATE测试平台联合调试实战》
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03
《CP测试探针卡参数配置与良率分析实战课程》
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04
《CP测试探针卡选型与信号完整性优化方法》
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05
《CP测试探针卡选型与测试环境故障排查》
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06
《DFT设计中Scan Chain插入与故障诊断工程案例》
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07
《FT测试流程优化与封装后可靠性验证课程》
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08
《FT测试程序开发与ATE平台参数配置技巧》
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09
《FT测试程序开发与ATE平台数据传输接口调优》
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10
《探针卡接触电阻对CP测试故障诊断的影响》
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11
《探针卡接触电阻对CP测试良率稳定性的优化》
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12
《探针卡选型对CP测试良率提升的工程案例》
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13
《测试向量生成与BIST内建自测试联合设计课》
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14
《测试向量生成在ATE测试中的参数配置实战》
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15
《芯片DFT设计与BIST内建自测试联合优化课》
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16
《芯片DFT设计与测试覆盖率提升工程案例》
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17
《芯片良率分析结合BIST设计的故障定位策略》
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18
《芯片良率分析结合BIST设计的测试覆盖率提升》
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19
《边界扫描测试与IEEE 1149 1标准工程案例》
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20
《边界扫描测试在芯片ATE测试中的部署指南》
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