VIP20
本课程属于：012-芯片测试技术 半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

CP测试探针卡参数配置与良率分析实战课程

共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域
01
CP测试基础概念
CP测试定义 · CP测试在半导体制造流程中的位置 · CP测试与FT测试的区别
CP测试基础概念
02
探针卡概述
探针卡的作用 · 探针卡类型（悬臂针 · 垂直针
探针卡概述探针卡的作用
03
探针卡关键参数（一）
针尖材质 · 针尖形状 · 针尖直径
探针卡关键参数针尖材质
04
探针卡关键参数（二）
针长 · 针间距 · 针排布方式
探针卡关键参数针长
05
探针卡关键参数（三）
接触电阻 · 寄生电容 · 寄生电感
探针卡关键参数接触电阻
06
探针卡关键参数（四）
过驱量（Overdrive） · 针压（Force） · 针痕（Scrub Mark）的设定与…
探针卡关键参数Overdrive
07
探针卡参数配置流程
需求分析 · 设计选型 · 参数计算
探针卡参数配置流…需求分析
08
探针卡与测试机接口
探针卡接口标准（如TIB · PIB） · 信号完整性
探针卡测试机接口
09
探针卡校准技术
开路校准 · 短路校准 · 负载校准
探针卡校准技术开路校准
10
探针卡清洁与维护
清洁周期 · 清洁方法（物理清洁 · 等离子清洁）
探针卡清洁维护
11
探针卡寿命管理
寿命影响因素 · 寿命预测模型 · 寿命延长策略
探针卡寿命管理寿命影响因素
12
CP测试良率定义
良率计算公式 · 良率分类（晶圆良率 · 芯片良率
CP测试良率定义
13
良率损失因素分析（一）
探针卡接触不良导致的良率损失 · 接触电阻异常分析
良率损失因素分析探针卡接触不良导…
14
良率损失因素分析（二）
探针卡针痕异常导致的良率损失 · 针痕深度与宽度标准
良率损失因素分析探针卡针痕异常导…
15
良率损失因素分析（三）
探针卡磨损导致的良率损失 · 磨损速率与测试次数关系
良率损失因素分析探针卡磨损导致的…
16
良率损失因素分析（四）
探针卡污染导致的良率损失 · 污染源识别与对策
良率损失因素分析探针卡污染导致的…
17
良率损失因素分析（五）
探针卡与Pad对准偏差导致的良率损失 · 对准精度要求
良率损失因素分析Pad
18
良率数据分析方法
SPC控制图 · Cpk/Ppk计算 · 正态分布分析
良率数据分析方法SPC
19
探针卡参数与良率关联分析
参数漂移对良率的影响 · 参数阈值设定方法
探针卡参数良率关联分析
20
探针卡参数优化实战
基于良率数据的参数调整策略 · DOE实验设计方法
探针卡参数优化实…基于良率数据的参…
21
探针卡故障诊断
常见故障模式（开路 · 短路 · 漏电
探针卡故障诊断常见故障模式
22
探针卡测试数据采集
数据采集系统架构 · 数据格式 · 数据存储规范
探针卡测试数据采…数据采集系统架构
23
探针卡测试数据分析工具
Python数据分析库（Pandas · NumPy · Matplotlib）在良率分析中的…
探针卡测试数据分…Python
24
探针卡参数配置案例（一）
逻辑芯片CP测试探针卡参数配置实例
探针卡参数配置案…CP
25
探针卡参数配置案例（二）
存储芯片CP测试探针卡参数配置实例
探针卡参数配置案…CP
26
探针卡参数配置案例（三）
射频芯片CP测试探针卡参数配置实例
探针卡参数配置案…CP
27
探针卡参数配置案例（四）
功率芯片CP测试探针卡参数配置实例
探针卡参数配置案…CP
28
良率提升实战案例
某产品良率从85%提升至95%的完整…
良率提升实战案例某产品良率从85…
29
探针卡新技术趋势
MEMS探针卡 · 多层探针卡 · 高频探针卡
探针卡新技术趋势MEMS
30
课程总结与展望
CP测试探针卡技术发展方向 · 良率管理最佳实践总结
课程总结CP