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测试向量生成与BIST内建自测试联合设计课

共计 30 章节

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VLSI测试的重要性 · 测试成本分析 · 测试挑战概述

课程导论VLSI

故障模型基础

固定型故障模型 · 跳变故障模型 · 桥接故障模型

故障模型基础固定型故障模型

组合逻辑测试生成基础

D算法原理 · D算法步骤 · D算法示例

组合逻辑测试生成…D算法原理

组合逻辑测试生成进阶

PODEM算法 · FAN算法 · SOCRATES算法

组合逻辑测试生成…PODEM

时序逻辑测试生成

时序电路测试挑战 · 时序故障模型 · 时序ATPG方法

时序逻辑测试生成时序电路测试挑战

测试压缩技术

测试数据压缩动机 · 基于编码的压缩 · 基于LFSR的压缩

测试压缩技术测试数据压缩动机

BIST基本概念

BIST定义与架构 · BIST优势与局限 · BIST分类

BIST基本概念

LFSR原理与应用

线性反馈移位寄存器原理 · LFSR多项式 · LFSR作为伪随机序列发生器

伪随机测试生成

伪随机序列特性 · 伪随机测试生成器设计 · 测试覆盖率分析

伪随机测试生成伪随机序列特性

响应分析技术

特征分析原理 · 多输入特征寄存器 · 菊花链特征分析

响应分析技术特征分析原理

BIST架构设计

STUMPS架构 · LOCST架构 · BIST控制器设计

BIST架构设计

存储器故障模型 · March算法原理 · March算法变体

逻辑BIST架构 · 逻辑BIST测试点插入 · 逻辑BIST测试调度

BIST与扫描链结合

扫描链基础 · 扫描BIST架构 · 扫描BIST测试生成

BIST扫描链结合

测试点插入技术

测试点类型 · 测试点插入策略 · 测试点对覆盖率的影响

测试点插入技术测试点类型

确定性BIST动机 · 基于LFSR重播种的BIST · 基于ROM的BIST

BIST调度与优化

测试时间最小化 · 测试功耗优化 · 测试资源分配

测试向量生成与BIST联合设计动机

传统测试流程瓶颈 · 联合设计优势 · 联合设计挑战

BIST测试向量生成

联合设计架构

联合设计顶层架构 · 测试控制器设计 · 测试向量存储器设计

联合设计架构联合设计顶层架构

联合设计测试生成策略

ATPG与BIST协同生成 · 混合测试集生成 · 测试集分割策略

联合设计测试生成…ATPG

联合设计中的测试压缩

联合压缩框架 · 基于字典的压缩 · 基于游程编码的压缩

联合设计测试压缩

联合设计中的测试调度

联合测试调度模型 · 测试时间优化 · 测试功耗约束

联合设计测试调度

联合设计中的测试点插入

联合测试点选择 · 测试点对ATPG与BIST的影响 · 测试点插入算法

联合设计测试点插入

联合设计中的X-tolerance

X态来源 · X态对BIST的影响 · X-masking技术

X-tolerance联合设计

联合设计中的诊断支持

故障诊断基础 · BIST诊断方法 · 联合诊断架构

联合设计诊断支持

联合设计EDA工具流程

商业工具支持 · 开源工具介绍 · 联合设计脚本流程

EDA联合设计

联合设计案例研究1

小型组合电路联合设计 · 设计步骤详解 · 实验结果分析

联合设计案例研究…小型组合电路联合…

联合设计案例研究2

中型时序电路联合设计 · 设计步骤详解 · 实验结果分析

联合设计案例研究…型时序电路联合设…

联合设计案例研究3

SoC系统级联合设计 · 多核BIST集成 · 测试访问机制设计

联合设计案例研究…SoC

课程总结与未来展望

课程核心知识点回顾 · 新兴测试技术 · AI在测试中的应用

课程总结未来展望