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测试向量生成在ATE测试中的参数配置实战

共计 30 章节
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01
ATE测试基础概念
ATE定义 · ATE在半导体测试中的作用 · ATE测试流程概述
ATE测试基础概念
02
测试向量定义
什么是测试向量 · 测试向量的组成要素（Pattern · Timing
测试向量定义什么是测试向量
03
ATE硬件架构
测试头（Test Head） · 引脚电子（PE） · 通道板（Channel Board）
ATE硬件架构
04
测试系统软件架构
操作系统层 · 测试执行层 · 向量编译层
测试系统软件架构操作系统层
05
测试参数类型
DC参数（电压 · 电流） · AC参数（时序
测试参数类型DC
06
电压参数配置
VIH/VIL（输入高/低电平） · VOH/VOL（输出高/低电平） · VDD/VSS电源电压设置
电压参数配置VIH/VIL
07
电流参数配置
输入漏电流（IIL/IIH） · 输出驱动电流（IOL/IOH） · 电源电流（IDD）测量
电流参数配置IIL/IIH
08
时序参数配置
周期（Period） · 建立时间（Setup Time） · 保持时间（Hold Time）
时序参数配置Period
09
电平参数配置
驱动电平（Drive Levels） · 比较电平（Compare Level… · 负载电平（Load Levels）
电平参数配置Drive
10
向量格式详解
STIL格式 · WGL格式 · VCD格式
向量格式详解STIL
11
向量生成流程
从RTL仿真到ATE向量转换 · 向量编译 · 向量加载
向量生成流程RTL
12
向量编译参数
向量压缩 · 向量分页 · 向量循环
向量编译参数向量压缩
13
时序生成器配置
多时序集（Multi-Timing… · 时序选择 · 时序切换
时序生成器配置Multi-Timing
14
电平生成器配置
电平集（Level Sets） · 电平切换 · 电平校准
电平生成器配置Level
15
通道映射配置
逻辑通道到物理通道映射 · 通道分组 · 通道掩码
通道映射配置逻辑通道到物理通…
16
测试模式配置
功能测试模式 · 扫描测试模式 · BIST测试模式
测试模式配置功能测试模式
17
DC测试参数配置
开短路测试参数 · 漏电流测试参数 · 电源电流测试参数
DC测试参数配置
18
AC测试参数配置
频率测试参数 · 上升/下降时间测试参数 · 传播延迟测试参数
AC测试参数配置
19
功能测试参数配置
向量速率 · 向量深度 · 向量重复次数
功能测试参数配置向量速率
20
测试程序结构
测试程序主控 · 测试模块 · 测试子程序
测试程序结构测试程序主控
21
参数化测试向量
使用变量定义参数 · 参数传递 · 参数覆盖
参数化测试向量使用变量定义参数
22
向量调试技巧
单步执行 · 断点设置 · 波形查看
向量调试技巧单步执行
23
向量优化策略
向量压缩算法 · 向量合并 · 向量排序
向量优化策略向量压缩算法
24
多工位测试配置
并行测试参数 · 工位独立参数 · 工位同步参数
多工位测试配置并行测试参数
25
温度补偿参数
温度系数设置 · 温度补偿算法 · 温度校准流程
温度补偿参数温度系数设置
26
校准参数配置
电压校准 · 电流校准 · 时序校准
校准参数配置电压校准
27
测试极限参数
规格上限（USL） · 规格下限（LSL） · 测试裕量（Guardband）
测试极限参数USL
28
参数文件管理
参数文件格式 · 参数文件导入导出 · 参数版本控制
参数文件管理参数文件格式
29
ATE测试脚本编写
Python/Perl脚本调用ATE… · 参数动态配置 · 结果回读
ATE测试脚本编写
30
实战案例
一个完整芯片的ATE测试参数配置全流…
实战案例ATE