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BIST内建自测试与ATE测试平台联合调试实战

共计 30 章节
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01
BIST基础概念
BIST的定义 · 历史背景 · 在SoC测试中的重要性
BIST基础概念
02
ATE测试平台概述
ATE的基本架构 · 主要功能模块（Pattern Gen… · DUT Power Supply
ATE测试平台概述
03
联合调试环境搭建
硬件连接（探针卡 · 负载板） · 软件驱动安装
联合调试环境搭建硬件连接
04
BIST控制器架构
LFSR（线性反馈移位寄存器） · MISR（多输入特征寄存器） · BIST控制器的状态机设计
BIST控制器架构
05
Memory BIST原理
March算法（March C- · March LR） · 故障模型（SAF
MemoryBIST
06
Logic BIST原理
STUMPS架构 · 伪随机测试生成 · 响应压缩与签名分析
LogicBIST
07
ATE Pattern格式解析
STIL · WGL · VCD格式转换
ATEPattern
08
BIST启动与同步
BIST使能信号时序 · ATE同步信号（Sync · Ready/Busy）调试
BIST启动
09
ATE Pattern加载与执行
Pattern下载流程 · Cycle Based vs. Ev…
ATEPattern
10
BIST时钟域处理
多时钟域同步 · 门控时钟（Clock Gating）…
BIST时钟域处理
11
ATE DC参数测试与BIST结合
漏电流测试 · 电源电流（IDDQ）与BIST结果的…
ATEDC
12
BIST故障注入与模拟
使用ATE进行故障注入（Stuck-… · Transition Delay） · 模拟BIST响应
BIST故障注入
13
ATE Shmoo图分析
Shmoo图原理 · 电压/频率扫描与BIST Pass/…
ATEShmoo
14
BIST签名比对与调试
Golden Signature获取 · 签名失配时的诊断流程
BIST签名比对
15
ATE Pattern Debug工具使用
Waveform Viewer · Pattern Compare · Fail Log分析
ATEPattern
16
BIST扫描链调试
扫描链完整性测试 · ATE Shift/Capture模…
BIST扫描链调试
17
ATE Timing校准
Per-Pin Timing校准 · Edge Placement精度对B…
ATETiming
18
BIST功耗管理
ATE测试中的热管理 · BIST动态功耗控制（DFT Clo…
BIST功耗管理
19
ATE多站点测试
Multi-site并行测试策略 · BIST资源共享与隔离
ATE多站点测试
20
BIST良率分析
BIST Fail Bitmap生成 · 良率损失原因分析（Systemati…
BIST良率分析
21
ATE测试程序优化
Pattern压缩 · 测试时间缩减（Test Time R…
ATE测试程序优化
22
BIST与ATPG协同
ATPG生成的Pattern与BIS…
BISTATPG
23
ATE硬件调试
探针接触电阻测试 · 负载板信号完整性（SI）对BIST的…
ATE硬件调试
24
BIST复位与初始化序列
Power-On Reset · BIST初始化序列的ATE实现
BIST复位
25
ATE Pattern重试机制
Fail Retry策略 · BIST非确定性行为的处理
ATEPattern
26
BIST诊断寄存器读取
通过JTAG/IJTAG读取BIST… · 故障寄存器
BIST诊断寄存器读取
27
ATE数据日志分析
STDF格式解析 · Yield Analysis Das…
ATE数据日志分析
28
BIST与ECC/修复结合
Memory Repair · Redundancy Analysi…
BISTECC
29
ATE与BIST的自动化脚本
Python/Perl脚本控制ATE · 自动化BIST测试流程
ATEBIST
30
综合实战案例
一个完整的Memory BIST +…
综合实战案例Memory