VIP20
本课程属于：012-芯片测试技术 半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

DFT设计中Scan Chain插入与故障诊断工程案例

共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域
01
DFT基础概念
可测试性设计(DFT)的定义 · 重要性及在芯片设计流程中的位置
DFT基础概念
02
Scan Chain原理
扫描链(Scan Chain)的基本… · 工作模式（正常模式与测试模式）及移位…
ScanChain
03
扫描触发器类型
muxed-D · LSSD · 时钟门控扫描触发器的结构对比与选择策…
扫描触发器类型muxed-D
04
Scan Chain设计规范
时钟域划分 · 扫描使能信号(SE)的扇出与布线约束 · 扫描时钟的同步要求
ScanChain
05
Scan Chain插入流程
从RTL到网表的Scan Chain… · 包括综合 · 替换
ScanChain
06
EDA工具实践
使用Synopsys DFT Com…
EDA工具实践
07
Scan Chain验证
功能仿真验证扫描链移位与捕获的正确性 · 测试向量生成
ScanChain
08
ATPG基础
自动测试向量生成(ATPG)原理 · Stuck-at故障模型与Trans…
ATPG自动测试向量生成
09
故障覆盖率分析
如何计算单链与全芯片的故障覆盖率 · 影响覆盖率的因素
故障覆盖率分析如何计算单链
10
Scan Chain故障类型
固定故障 · 桥接故障 · 开路故障
ScanChain
11
故障诊断流程
基于ATPG的故障诊断步骤 · 从失败日志到故障定位
故障诊断流程ATPG
12
诊断工具使用
使用Synopsys TetraMA…
诊断工具使用Synopsys
13
链诊断技术
Chain Diagnosis方法 · 通过移位模式与捕获模式定位链中故障点
链诊断技术Chain
14
逻辑诊断技术
Logic Diagnosis方法 · 基于故障字典与路径追踪定位逻辑故障
逻辑诊断技术Logic
15
故障字典构建
如何生成并利用故障字典加速诊断过程
故障字典构建如何生成并利用故…
16
工程案例1
单扫描链固定故障的诊断与修复（含波形…
工程案例1单扫描链固定故障…
17
工程案例2
多时钟域扫描链的时序故障诊断与时钟树…
工程案例2多时钟域扫描链的…
18
工程案例3
桥接故障导致的扫描链短路问题定位与版…
工程案例3桥接故障导致的扫…
19
工程案例4
低功耗设计中时钟门控对扫描链的影响及…
工程案例4低功耗设计
20
工程案例5
大规模SoC中跨域扫描链的故障隔离与…
工程案例5SoC
21
扫描链压缩技术
XOR压缩 · MISR压缩原理及对诊断的影响
扫描链压缩技术XOR
22
诊断分辨率提升
使用物理感知诊断(Physical-…
诊断分辨率提升Physical
23
良率学习与故障分析
将诊断结果反馈至设计改进与良率提升
良率学习故障分析
24
ATE测试与诊断
自动测试设备(ATE)上的扫描链测试…
ATE测试
25
边界扫描与JTAG
IEEE 1149.1标准在扫描链诊…
JTAG边界扫描
26
内建自测试(BIST)
Logic BIST与Memory…
BIST内建自测试
27
诊断数据管理
如何组织 · 分析大规模诊断数据（Yield An…
诊断数据管理如何组织
28
高级诊断技术
基于机器学习的故障分类与预测
高级诊断技术基于机器学习的故…
29
DFT设计规则检查(DRC)
扫描链插入前的设计规则验证与常见违例…
DFTDRC
30
课程总结与未来趋势
DFT与诊断技术的发展方向（如2.5…
课程总结未来趋势