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006-统计质量、DOE与六西格玛工程
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006-统计质量、DOE与六西格玛工程
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25门
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测试测量质量可靠性工程
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01
《Cpk与DPU过程能力联动优化》
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02
《CVD工艺窗口与DOE参数优化》
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03
《DOE试验设计与工艺参数优化》
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04
《JMP与Minitab质量统计分析实战》
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05
《Minitab六西格玛统计分析实战》
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06
《PCB阻抗量产测试与Cpk分析工程》
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07
《RLC瞬态响应参数优化与验证》
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08
《SPC与Pareto质量数据分析实战》
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09
《SPC实时监控与异常报警工程》
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10
《SPC良率趋势建模与预测实战》
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11
《SPICE温度模型参数校准与验证》
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12
《VCU标定参数优化与验证工程》
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13
《光刻胶涂布工艺窗口与参数优化》
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14
《六西格玛DMAIC质量改进实战》
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15
《六西格玛流程能力与变异降低》
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16
《六西格玛质量改进实战100例》
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17
《刻蚀缺陷密度与工艺窗口优化》
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18
《半导体良率工程师核心技能:数据分析与SPC实战》
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19
《半导体良率改善体系与闭环工程》
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20
《半导体量产良率基线建立与迁移》
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21
《半导体量产良率控制与标准化工程》
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22
《工业系统仿真参数优化与验证工程》
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23
《手眼标定参数优化与精度验证》
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24
《扩散炉管掺杂均匀性与工艺窗口优化》
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25
《高速接口批量验证与SPC过程控制》
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