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嵌入式逻辑分析仪在Agilex DDR4眼图测试中的应用

共计 30 章节
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01
DDR4与眼图基础
DDR4 SDRAM基本工作原理 · 信号完整性概念 · 眼图定义与测量参数
DDR4眼图基础
02
Agilex FPGA架构概览
Agilex 7 FPGA系列介绍 · 硬核内存控制器（HMC）特性 · PHY层与IO单元
AgilexFPGA
03
嵌入式逻辑分析仪（ELA）原理
ELA硬件架构 · 触发条件与存储深度 · 与外部示波器的区别
ELA嵌入式逻辑分析仪
04
DDR4接口电气特性
Vref · ODT · 驱动强度
DDR4接口电气特性
05
眼图测试环境搭建
硬件平台（Agilex开发板+DIM… · 时钟源配置 · 电源完整性要求
眼图测试环境搭建Agilex
06
Quartus Prime工程设置
创建工程 · 选择器件 · 配置HMC与PHY参数
QuartusPrime
07
ELA IP核集成
在Platform Designer… · 连接DDR4接口信号 · 时钟域同步
ELAIP
08
触发条件配置
设置眼图扫描触发 · 数据眼图掩码触发 · 错误触发
触发条件配置设置眼图扫描触发
09
眼图扫描模式详解
水平扫描（时间轴） · 垂直扫描（电压轴） · 二维眼图构建
眼图扫描模式详解水平扫描
10
数据采集与存储
ELA采样深度设置 · 数据导出格式（CSV/VCD） · 片上存储管理
数据采集存储
11
眼图参数测量
眼高 · 眼宽 · 抖动（RJ/DJ）
眼图参数测量眼高
12
信号完整性分析
ISI（码间干扰） · 串扰 · 反射对眼图闭合的影响
信号完整性分析ISI
13
DDR4读写分离测试
读眼图与写眼图差异分析 · DQS与DQ时序关系
DDR4读写分离测试
14
电压裕量测试
通过改变Vref测量眼图垂直开口变化
电压裕量测试Vref
15
时序裕量测试
通过调整DQS延迟测量眼图水平开口变…
时序裕量测试DQS
16
ODT与驱动强度优化
不同ODT设置下的眼图对比实验
ODT驱动强度优化
17
温度与电压漂移测试
环境温度变化对眼图的影响 · 电压纹波分析
温度电压漂移测试
18
眼图掩码测试
JEDEC标准掩码定义 · 自动掩码违规检测
眼图掩码测试JEDEC
19
多通道同步测试
同时捕获多个DQ/DQS通道 · 通道间偏差分析
多通道同步测试DQ/DQS
20
DDR4训练过程分析
ZQ校准 · 读写平衡 · DQS门控训练对眼图的影响
DDR4训练过程分析
21
故障注入与调试
模拟信号完整性问题 · 通过ELA定位故障点
故障注入调试
22
眼图测试脚本自动化
使用Tcl脚本控制ELA · 批量测试与数据记录
眼图测试脚本自动…Tcl
23
数据分析与可视化
Python/Matlab处理ELA… · 绘制眼图热力图
数据分析可视化
24
眼图与BER关系
误码率（BER）浴盆曲线 · 眼图开口与BER的关联
BER眼图
25
DDR4-3200与更高速度等级测试
速率提升对眼图测试的挑战
DDR4-3200更高速度等级测试
26
Agilex硬核内存控制器调试
HMC寄存器配置 · 状态监控 · 错误日志
Agilex硬核内存控制器调…
27
PCB布局对眼图的影响
走线长度匹配 · 过孔设计 · 参考层完整性
PCB布局对眼图的影响
28
实际案例
DDR4接口失效分析——眼图闭合导致…
实际案例DDR4
29
实际案例
通过ELA优化DDR4时序参数提升系…
实际案例ELA
30
课程总结与进阶方向
DDR5/LPDDR5眼图测试展望 · AI辅助信号完整性分析
课程总结进阶方向