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《从零掌握Chiplet封装技术》
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从零掌握Chiplet封装技术
📚 共计 30 章节
01
Chiplet概述
什么是Chiplet · 为什么需要 · vs SoC · 三大优势
成本
良率
灵活性
02
封装技术基础
引线键合 · 载带自动焊 · 倒装焊 · 晶圆级封装 · 3D
传统封装
先进封装
03
Chiplet互连技术 (上)
微凸点 · 混合键合 · 电气特性 · 信号完整性
物理层
SI
04
Chiplet互连技术 (下)
UCIe · BoW · OpenHBI · 协议栈 · 带宽延迟
Die-to-Die
标准
05
Chiplet架构设计
分解策略 · 功能分区 · 数据流 · AMD/Intel案例
SoC切分
一致性
06
中介层技术
硅中介层 · 有机中介层 · 扇出型 · RDL设计
Si Interposer
扇出
07
3D堆叠与TSV
硅通孔工艺 · 微凸点/无凸点 · 热管理 · 测试
TSV
堆叠
08
Chiplet电源完整性
PDN设计 · 去耦电容 · IR Drop · 噪声抑制
PDN
IR Drop
09
时钟与复位
时钟分配 · 跨Die同步 · 复位策略 · 抖动偏移
时钟
同步
10
测试与良率
KGD · 晶圆测试 · 封装后测试 · 良率模型
Known Good Die
成本
11
UCIe标准详解
物理层 · 协议层 · 配置协商 · 合规性测试
UCIe
互连
12
EDA工具链
设计流程 · 协同设计 · 物理验证 · 热仿真
EDA
仿真
13
DFT设计
扫描链 · 边界扫描 · BIST · 互连测试
JTAG
可测试性
14
散热设计
热阻模型 · 散热路径 · TIM · 液冷/风冷
热管理
TIM
15
可靠性
热循环 · 电迁移 · 应力迁移 · 湿度腐蚀
EM
SM
16
供应链与生态
代工厂 · OSAT · IP授权 · UCIe/ODSA联盟
生态
联盟
17
存储器集成
HBM · DDR5/LPDDR5 · CXL · 内存池化
HBM
CXL
18
IO与SerDes
高速SerDes · D2D IO · 均衡预加重 · 功耗
SerDes
IO
19
封装基板设计
BT基板 · ABF基板 · 布线规则 · 层叠结构
基板
ABF
20
电磁兼容 (EMC)
EMI来源 · 屏蔽 · 接地 · 仿真测试
EMC
屏蔽
21
异构集成
不同工艺 · 数模混合 · CPO · MEMS
异构
光电
22
功耗管理
DVFS · 电源门控 · 功耗建模 · 仿真工具
DVFS
低功耗
23
调试与诊断
片上调试 · 追踪日志 · 故障注入 · 调试接口
OCD
调试
24
安全设计
PUF · 安全边界 · 加密引擎 · 防篡改
PUF
安全
25
标准化进展
UCIe 1.0/2.0 · OpenCAPI · CCIX · CXL对比
标准
演进
26
AI/ML应用
AI加速器 · 分布式推理 · 训练互连 · 存算一体
AI
存算
27
汽车电子应用
车规可靠性 · ISO 26262 · ASIL · 冗余设计
汽车
功能安全
28
射频与毫米波
RF Chiplet · 天线集成 · 毫米波封装 · 相控阵
毫米波
射频
29
仿真与建模
SystemC · 多物理场 · IBIS · S参数
仿真
建模
30
未来趋势
小芯片粒化 · 光互连 · 量子Chiplet · 生物芯片
前沿
展望
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