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011-量产质量数据与良率分析工程

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10门 系列课程
测试测量质量可靠性工程 所属方向
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01
《CP与FT测试参数关联分析工程》
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02
《CP与FT良率联动分析与调优》
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03
《CP到FT测试数据与良率核算工程》
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04
《CP异常与FT良率偏差定位工程》
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05
《Yield Explorer良率分析实战》
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06
《半导体测试Fail数据与工艺归因》
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07
《半导体测试Golden Device标定与Yield提升》
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08
《半导体良率数据采集与清洗工程》
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09
《半导体良率监控报告与异常追溯》
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10
《良率问题定位：Yield Cliff分析与工艺窗口优化》
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