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本课程属于：011-量产质量数据与良率分析工程 测试测量质量可靠性工程 · 共 10 门相关课程，组合学习更完整。
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良率计算实战：CP测试数据到FT良率核算全流程

共计 30 章节
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01
半导体测试概述
芯片制造流程 · CP测试与FT测试的定义与区别 · 良率在半导体行业中的核心地位
半导体测试概述芯片制造流程
02
CP测试基础
CP测试的目的 · 探针卡工作原理 · 晶圆级测试流程
CP测试基础
03
FT测试基础
FT测试的目的 · 测试座与测试板 · 封装后测试流程
FT测试基础
04
测试数据格式解析
STDF格式介绍 · ATDF格式介绍 · CSV/Excel数据格式
测试数据格式解析STDF
05
CP测试数据采集
探针台与测试机协同 · 数据采集触发机制 · 数据完整性校验
CP测试数据采集
06
FT测试数据采集
分选机与测试机协同 · 数据采集触发机制 · 多工位测试数据管理
FT测试数据采集
07
数据清洗与预处理
缺失值处理 · 异常值检测（3σ原则 · IQR方法）
数据清洗预处理
08
CP良率计算基础
良率定义公式（Good Die /… · Bin分类与良率关系 · Map图生成
CP良率计算基础
09
FT良率计算基础
良率定义公式（Good Unit /… · Bin分类与良率关系 · 多工位良率计算
FT良率计算基础
10
CP与FT良率对比分析
CP良率 vs FT良率差异原因 · 相关性分析 · 良率损失定位
CPFT
11
Bin分布分析
Bin分布直方图 · Pareto图分析 · 主要失效Bin定位
Bin分布分析
12
良率损失归因分析
系统性失效 vs 随机性失效 · 工艺窗口分析 · 测试稳定性分析
良率损失归因分析vs
13
CP测试Map图分析
Bin Map可视化 · 空间分布模式识别 · 边缘效应分析
CPMap
14
FT测试多工位分析
工位间良率差异分析 · 工位一致性检验 · 测试座接触电阻影响
FT测试多工位分析
15
良率趋势分析
时间序列良率趋势图 · 移动平均线 · 控制图（p-chart
良率趋势分析时间序列良率趋势…
16
CP到FT良率传递模型
CP良率对FT良率的影响 · 良率传递系数计算 · 预测模型建立
CPFT
17
良率核算中的统计学基础
正态分布 · 二项分布 · 泊松分布
良率核算统计学基础
18
抽样检验与良率估计
AQL抽样标准 · OC曲线 · 样本量确定
抽样检验良率估计
19
Python环境搭建
Anaconda安装 · Jupyter Notebook配置 · Pandas/NumPy/Matpl…
Python环境搭建
20
Python数据读取实战
使用Pandas读取CSV/Exce… · 读取STDF文件（pySTDF库） · 数据预览与基本信息
Python数据读取实战
21
Python数据清洗实战
缺失值处理代码实现 · 异常值检测代码实现 · 数据合并与筛选
Python数据清洗实战
22
Python良率计算实战
CP良率计算代码实现 · FT良率计算代码实现 · Bin分类统计代码实现
Python良率计算实战
23
Python可视化实战
良率柱状图 · Bin分布Pareto图 · CP Map图热力图
Python可视化实战
24
Python良率报告自动生成
使用Matplotlib生成图表 · 使用Pandas生成统计表 · 报告模板化输出
Python良率报告自动生成
25
案例实战一
CP测试数据良率核算全流程（数据加载…
案例实战一CP
26
案例实战二
FT测试数据良率核算全流程（数据加载…
案例实战二FT
27
案例实战三
CP到FT良率传递分析（数据关联→传…
案例实战三CP
28
良率提升策略
基于数据分析的良率改善方法 · DOE实验设计简介 · FMEA失效模式分析
良率提升策略基于数据分析的良…
29
自动化良率监控系统
实时数据采集架构 · 自动化报表推送 · 异常告警机制
自动化良率监控系…实时数据采集架构
30
课程总结与进阶方向
良率核算知识体系回顾 · 大数据与AI在良率分析中的应用 · 推荐学习资源
课程总结进阶方向