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良率测试策略：CP测试参数与FT良率联动调优

共计 30 章节
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01
课程导论
CP测试与FT测试的基本概念 · 良率定义 · 课程目标与学习路径
课程导论CP
02
半导体测试流程全景
从晶圆制造到封装测试 · CP与FT在整体流程中的位置与作用
半导体测试流程全…从晶圆制造到封装…
03
CP测试基础
探针台 · 测试机 · 探针卡工作原理及关键参数（温度
CP测试基础
04
FT测试基础
分选机 · 测试座 · Handler工作原理及关键参数（接…
FT测试基础
05
CP测试核心参数详解
DC参数（漏电流 · 阈值电压） · AC参数（延迟
CP测试核心参数详解
06
FT测试核心参数详解
功能测试向量 · 扫描链测试 · IDDQ测试
FT测试核心参数详解
07
良率指标体系
CP良率 · FT良率 · 封装良率
良率指标体系CP
08
CP与FT良率差异分析
良率损失归因（系统性 · 随机性 · 参数性）
CPFT
09
数据采集与标准化
STDF格式 · 数据清洗 · 异常值处理
数据采集标准化
10
EDA工具与数据分析平台
JMP · Minitab · Spotfire
EDA工具
11
相关性分析基础
Pearson/Spearman相关… · 散点图矩阵 · 热力图在CP-FT参数关联中的应用
相关性分析基础Pearson/Spea…
12
CP参数对FT良率的影响
关键CP参数（如Vt · Idsat）与FT测试通过率的单变量…
CPFT
13
多变量分析
主成分分析（PCA） · 因子分析降维 · 识别影响FT良率的关键CP参数组合
多变量分析PCA
14
统计过程控制（SPC）
控制图（Xbar-R · I-MR） · CP/CPK监控
SPC统计过程控制
15
DOE实验设计
全因子 · 部分因子 · 响应曲面法在CP参数调优中的应用
DOE实验设计
16
机器学习入门
线性回归 · 逻辑回归 · 决策树在良率预测中的基础应用
机器学习入门线性回归
17
随机森林与梯度提升
XGBoost · LightGBM在CP-FT良率联动…
随机森林梯度提升
18
特征工程
CP参数特征选择 · 特征构造 · 交互特征
特征工程CP
19
模型评估与解释
混淆矩阵 · ROC曲线 · SHAP值
模型评估解释
20
CP测试参数调优策略
基于模型反馈的CP测试限调整（Spe…
CP测试参数调优策略
21
FT测试参数调优策略
测试向量优化 · 并行测试数调整 · 温度与电压Margin
FT测试参数调优策略
22
联动调优案例1
存储器产品CP漏电流参数与FT功能良…
联动调优案例1CP
23
联动调优案例2
逻辑芯片CP速度参数与FT Spee…
联动调优案例2CP
24
联动调优案例3
模拟芯片CP线性度参数与FT参数良率…
联动调优案例3CP
25
良率爬坡与持续监控
良率基线建立 · 异常检测 · 自动报警与闭环反馈
良率爬坡持续监控
26
自动化调优系统架构
数据管道 · 模型服务 · 规则引擎
自动化调优系统架…数据管道
27
良率管理软件与平台
YieldHub · PDF Solutions · Synopsys Yield Exp…
良率管理软件平台
28
团队协作与流程规范
测试工程师 · 良率工程师 · 设计工程师的协作模式
团队协作流程规范
29
行业趋势
AI驱动的自适应测试 · 数字孪生 · 大数据平台在良率调优中的未来
行业趋势AI
30
课程总结与实战项目
综合案例演练 · 常见问题FAQ · 推荐学习资源与认证路径
课程总结实战项目