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良率软件操作：Yield Explorer参数配置与可视化

共计 30 章节

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Yield Explorer概述

软件定位 · 在半导体良率管理中的核心价值 · 典型应用场景

软件安装与启动

系统要求 · 安装步骤 · 许可证激活

软件安装启动

主界面布局

菜单栏 · 工具栏 · 项目浏览器

主界面布局菜单栏

项目创建与管理

新建项目 · 打开已有项目 · 项目保存与版本管理

项目创建管理

数据源配置

支持的数据格式（CSV · TXT · 数据库）

数据源配置CSV

参数映射与定义

参数名称映射 · 数据类型定义 · 单位设置

参数映射定义

批次与晶圆信息配置

批次号规则 · 晶圆ID格式 · 槽位映射

批次晶圆信息配置

测试项参数配置

测试项名称 · 测试条件 · 上下规格限

测试项参数配置测试项名称

Bin分类与定义

Bin码规则 · Bin描述 · 良品/不良品分类

站点与设备参数

测试站点编号 · 设备ID · 探针卡信息

站点设备参数

参数分组与层级

逻辑分组创建 · 父子层级关系 · 分组权限管理

参数分组层级

过滤器与条件设置

参数过滤器 · 时间范围过滤器 · 批次过滤器

过滤器条件设置

计算字段与衍生参数

公式编辑器 · 内置函数库 · 自定义计算字段

计算字段衍生参数

参数模板管理

模板创建 · 模板导入/导出 · 模板版本控制

参数模板管理模板创建

可视化类型概览

散点图 · 直方图 · 箱线图

可视化类型概览散点图

晶圆图（Wafer Map）配置

晶圆图类型选择 · 颜色映射规则 · 缺陷叠加

散点图与相关性分析

X/Y轴参数选择 · 分组着色 · 回归线添加

散点图相关性分析

直方图与分布分析

分箱数设置 · 正态分布叠加 · 规格限标注

直方图分布分析

箱线图与统计摘要

分组箱线图 · 异常值显示 · 中位数与四分位数标注

箱线图统计摘要

趋势图与过程监控

时间序列趋势 · 移动平均线 · 控制限添加

趋势图过程监控

帕累托图与缺陷分析

缺陷分类排序 · 累积百分比曲线 · 80/20规则标注

帕累托图缺陷分析

仪表盘与报告布局

多视图组合 · 仪表盘模板 · 布局调整

仪表盘报告布局

交互式筛选与钻取

视图联动筛选 · 下钻到批次/晶圆详情 · 反向筛选

交互式筛选钻取

统计过程控制（SPC）配置

控制图类型选择（Xbar-R · I-MR等） · 控制限计算规则

SPC统计过程控制

良率计算与汇总

良率公式配置 · 分Bin良率计算 · 累计良率

良率计算汇总

数据导出与报告生成

导出数据格式（Excel · CSV · JMP）

数据导出报告生成

用户权限与安全管理

用户角色定义 · 项目权限分配 · 数据脱敏策略

用户权限安全管理

性能优化与大数据处理

数据采样策略 · 缓存机制 · 并行计算配置

性能优化大数据处理

脚本与自动化接口

Python脚本集成 · API接口调用 · 宏录制与回放

脚本自动化接口

综合案例实战

从数据导入到良率报告生成的全流程演练 · 常见问题排查与最佳实践

综合案例实战从数据导入到良率…