VIP10

本课程属于：011-量产质量数据与良率分析工程 测试测量质量可靠性工程 · 共 10 门相关课程，组合学习更完整。

查看所属VIP全部课程 →

← 返回所属目录咨询 / 购买

Yield提升与Golden Device标定案例

共计 30 章节

点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域

Yield提升的重要性 · Golden Device的定义 · 课程目标与适用人群

课程概述Yield

半导体测试基础

ATE测试 · FT测试的区别 · 关键良率指标（CP

半导体测试基础ATE

良率损失因素分析

系统性失效 · 随机性缺陷 · 参数漂移的识别方法

良率损失因素分析系统性失效

测试数据收集与统计基础

数据清洗 · 直方图 · 正态分布

测试数据收集统计基础

Golden Device的定义与选取原则

什么是标准器件 · 选取标准与验证流程

标定的目的和流程

机台间一致性 · 时间稳定性 · 测试结果溯源

标定的目的流程

测试机台校准与Golden Device的关系

校准件与Golden Device的…

参数测试与SPC控制

关键参数（电压 · 电流 · 频率）的监控与预警

SPC参数测试

测试程序开发中的Golden Device使用

程序验证 · 极限测试 · 良率模拟

良率监控图表（Yield Trend Chart）

构建方法 · 异常点判定 · Root Cause初步定位

帕累托分析定位关键失效

失效代码分类 · 柏拉图绘制 · 优先级排序

帕累托分析定位关…失效代码分类

探针卡与Socket对良率的影响

接触电阻 · 磨损周期 · 更换策略

Socket探针卡

温度与电压条件对测试结果的影响

温度补偿 · 电压扫描 · Golden Device的适应范围

温度电压条件对测试结…

Golden Device的漂移监测

定期复测 · 偏移量计算 · 告警阈值设定

标定周期与维护策略

基于统计的周期优化 · 预防性维护计划

标定周期维护策略

某芯片良率偏低时的系统排查——从数据…

案例某芯片良率偏低时…

Golden Device标定异常导…

不同测试仪之间的结果一致性——Gol…

良率提升中的DOE实验设计——因子筛… · 响应曲面 · 最优条件

多站点并行测试的均衡性调整——站点差…

案例多站点并行测试的…

先进封装对测试良率的影响

SiP · Fan-Out · 5D/3D封装测试挑战

先进封装对测试良…SiP

机器学习在良率分析中的应用

聚类 · 异常检测 · 预测模型搭建

机器学习良率分析

大数据看板构建

实时监控 · 历史比较 · 自动报警功能设计

大数据看板构建实时监控

测试成本与良率权衡

多测 · 重测策略 · 测试时长优化

测试成本良率权衡

自动化标定流程设计

脚本化标定 · 数据库记录 · 自动报告生成

自动化标定流程设…脚本化标定

国际标准与规范（如JEDEC、SEMI）

合规要求 · 文档管理

Golden Device的溯源与校准体系

NIST溯源 · 校准证书 · 内部比对

良率提升团队协作流程

跨部门沟通 · 问题升级机制 · 经验沉淀

良率提升团队协作…跨部门沟通

某产品良率从70%提升至95%的全过… · 里程碑 · 成果

案例某产品良率从70…

课程总结与未来趋势

AI驱动的自适应测试 · 数字孪生 · 先进节点挑战

课程总结未来趋势