2. 软件安装与启动

Yield Explorer 作为半导体良率分析的核心工具，其安装与启动过程需要严格遵循系统兼容性与许可规范。本章将详细阐述从环境准备到首次启动的完整流程，确保用户能够快速、稳定地搭建分析平台。

2.1 系统要求

为确保 Yield Explorer 在处理大规模晶圆测试数据（如 GPIB、STDF、CSV 文件）时的性能与稳定性，建议部署环境满足以下最低与推荐配置：

2.2 安装步骤

Yield Explorer 提供跨平台安装包。以下以 Windows 平台为例，展示标准安装流程：

1. 获取安装包： 从官方门户或内部软件仓库下载 Yield Explorer 安装程序（例如 YieldExplorer_v5.2.0_win64.exe）。
2. 运行安装向导： 右键点击安装程序，选择“以管理员身份运行”。
3. 选择安装路径： 建议使用默认路径（C:\Program Files\YieldExplorer），避免路径中包含中文字符或空格。
4. 选择组件： 在“选择组件”界面，勾选以下核心模块：
   • Yield Explorer Core (主程序)
   • Data Import Wizards (数据导入向导)
   • Visualization Engine (可视化引擎)
   • Database Connectors (数据库连接器)
5. 配置环境变量： 安装程序会自动添加系统 PATH 变量。若手动安装，需将 %INSTALL_DIR%\bin 加入 PATH。
6. 完成安装： 点击“完成”退出向导。建议重启系统以确保所有服务注册生效。

2.3 许可证激活

Yield Explorer 采用节点锁定（Node-Locked）或浮动（Floating）许可证机制。激活流程如下：

2.4 首次启动界面介绍

成功激活后，首次启动 Yield Explorer 将进入主工作台。界面布局遵循“数据-分析-可视化”三层架构，主要区域如下：

界面各区域功能简述：

• 项目浏览器： 管理数据源连接、批次分组、分析模板与输出报告。支持拖拽导入 CSV/STDF 文件。
• 中央工作区： 核心分析区域，支持多标签页切换。可同时打开数据表格、参数分布图、晶圆 Bin Map 与良率趋势图。
• 属性/配置面板： 动态显示当前选中对象的详细参数。例如选中 Bin Map 时，可调整颜色映射、阈值与坐标轴。
• 状态栏： 实时显示系统状态、数据库连接状态、许可证信息与当前用户。