3. 主界面布局

Yield Explorer 的主界面采用经典的多文档界面（MDI）布局，将核心操作区域划分为五个功能分区。理解每个分区的定位与交互逻辑，是高效完成参数配置与可视化分析的前提。

3.1 菜单栏与工具栏

菜单栏与工具栏构成了主界面的全局操作入口，负责文件管理、分析流程控制与视图切换。

3.2 项目浏览器

项目浏览器位于界面左侧，以树形结构组织当前分析项目中的所有资源。它是数据导航的起点，支持拖拽式操作。

• 晶圆批次列表： 显示已导入的所有晶圆批次，支持按批次号、生产日期、产品类型排序。
• 测试程序库： 存储与批次关联的测试程序（如 CP 测试、FT 测试），双击可查看测试项详情。
• 参数模板： 预定义的参数配置模板，支持一键应用到当前批次。
• 历史分析记录： 保存过往的分析配置与结果，便于回溯与对比。
• 报告输出目录： 管理生成的 PDF/Excel/图片报告，支持批量导出。

3.3 参数配置面板

参数配置面板是良率分析的核心交互区域，用户在此定义待分析的电性参数、规格限、分组条件与统计方法。

3.4 可视化视图区

可视化视图区占据界面右侧最大面积，负责将参数配置面板的分析结果以图形方式呈现。支持多视图联动与交互式探索。

可视化视图区支持以下常用图表类型：

• 箱线图（Box Plot）： 展示参数分布的中位数、四分位距与离群点，适用于批次间对比。
• 良率趋势图（Yield Trend）： 按时间序列展示良率变化，用于监控工艺稳定性。
• 晶圆 Bin Map： 以晶圆图为底，用颜色编码显示每个芯片的测试结果（Pass/Fail/Bin 类别）。
• 参数分布直方图（Histogram）： 展示参数值的频率分布，叠加规格限与目标值参考线。
• 散点矩阵图（Scatter Matrix）： 多参数间的相关性分析，辅助定位失效根因。

3.5 功能分区协作流程

五个功能分区并非孤立存在，而是通过事件驱动机制形成闭环协作：

1. 项目浏览器 中选中目标批次 → 自动加载至 参数配置面板。
2. 参数配置面板 完成参数与规格限设定 → 点击“运行”按钮。
3. 后台 数据引擎 执行统计计算与良率判定 → 结果推送至 可视化视图区。
4. 可视化视图区 渲染图表 → 用户通过交互（缩放/筛选/点击）触发 参数配置面板 的联动更新。
5. 分析完成后，通过 菜单栏/工具栏 保存项目或导出报告。