第1章
SerDes基础概念
什么是SerDes · 为什么需要SerDes · PCS层与PMA层架构
入门核心
第2章
高速信号理论基础
传输线效应 · 阻抗匹配 · SI基础 · 眼图概念
理论信号完整性
第3章
常用SerDes标准介绍
PCIe / SATA / USB3.0 / Ethernet 物理层对比
标准对比
第4章
上板调试前的准备
原理图检查 · PCB布局 · 电源完整性检查
准备硬件
第5章
调试工具介绍
高速示波器 · 误码仪(BERT) · 时域反射计(TDR)
仪器测量
第6章
时钟与参考时钟
参考时钟要求 · 抖动分类 · 时钟树设计
时钟抖动
第7章
PLL与时钟数据恢复
PLL原理 · CDR环路带宽 · 锁定检测
PLLCDR
第8章
预加重与均衡技术
Pre-emphasis · CTLE/DFE · 自适应均衡
均衡信号调理
第9章
眼图测试与分析
眼图模板 · 眼高眼宽 · 常见异常分析
眼图测试
第10章
抖动分析
RJ/DJ · 抖动分离 · TIE测量
抖动进阶
第11章
误码率测试
BERT设置 · 浴盆曲线 · BER与SNR关系
误码BERT
第12章
PCIe Gen3/Gen4上板调试
LTSSM · 均衡协商 · Gen3/Gen4调试点
PCIe高速
第13章
10G/25G Ethernet调试
Auto-Negotiation · 链路建立 · FEC调试
以太网FEC
第14章
SATA与USB3.0调试
OOB信号 · LFPS握手 · 速率协商
SATAUSB
第15章
SerDes寄存器配置
寄存器映射 · 初始化序列 · 调试寄存器
寄存器配置
第16章
IBERT内部误码率测试
Xilinx/Altera IBERT · 眼图扫描 · Margin测试
IBERTFPGA
第17章
高速PCB走线检查
TDR阻抗 · 串扰分析 · 过孔优化 · 背钻
PCBTDR
第18章
电源噪声对SerDes的影响
电源纹波 · PSRR · 去耦电容布局
电源噪声
第19章
温度与电压对性能的影响
温漂特性 · 电压裕量 · 可靠性验证
环境可靠性
第20章
多通道SerDes调试
通道串扰 · Skew校准 · 多通道同步
多通道同步
第21章
回环测试 (Loopback)
近端/远端回环 · 模式设置 · 测试用例
回环验证
第22章
PRBS伪随机序列测试
PRBS7/15/31 · 生成验证 · 码型依赖性
PRBS码型
第23章
SerDes功耗调试
功耗测量 · P0/P1/P2模式 · 散热设计
功耗散热
第24章
EMI/EMC问题排查
辐射问题 · 屏蔽滤波 · 展频时钟(SSC)
EMIEMC
第25章
常见硬件故障排查
无链路 · 不稳定 · 误码高 · 眼图闭合
故障根因
第26章
固件与驱动配合调试
PHY固件加载 · 驱动调优 · 中断/状态寄存器
固件驱动
第27章
自动化测试脚本编写
Python控制仪器 · 眼图扫描 · 批量测试
自动化Python
第28章
调试案例1：PCIe链路无法Gen3
从硬件到驱动的完整排查过程
案例PCIe
第29章
调试案例2：25G Ethernet误码过高
从PCB到均衡参数的根因分析
案例以太网
第30章
总结与进阶
112G PAM4趋势 · 调试方法论 · 学习资源
总结趋势