第1章
SerDes技术概述
什么是SerDes · 核心地位 · PCS与PMA子层功能划分
基础架构
第2章
SerDes硬件架构解析
TX/RX关键模块 · PLL与CDR · CTLE/DFE均衡
硬件均衡
第3章
高速PCB设计要点
差分信号布线 · 阻抗匹配 · 电源完整性
PCBSI
第4章
FPGA内部SerDes资源
Xilinx GTH/GTY · Intel Transceiver · Quad与Channel
FPGA架构
第5章
IP核配置与生成
Vivado Transceiver Wizard · 线速率 · 预加重/均衡
IP向导
第6章
仿真环境搭建
IBERT仿真模型 · Vivado Simulator · 环回测试
仿真IBERT
第7章
IBERT基础操作
IP核生成与例化 · GUI界面 · 眼图扫描
调试眼图
第8章
眼图分析实战
眼高/眼宽/抖动 · 链路质量判断
分析测量
第9章
抖动分析入门
RJ/DJ/Tj · 抖动容限 · BERT测试
抖动误码
第10章
PRBS码型测试
PRBS7/15/23/31 · 码型选择影响
码型测试
第11章
链路初始化与握手
Auto-Negotiation · Link Training · 光模块初始化
协议初始化
第12章
常见链路故障排查
No Lock · CRC Error · Disparity Error
故障调试
第13章
上板调试工具链
ChipScope · Vivado Logic Analyzer · 触发条件
工具逻辑分析
第14章
Tcl脚本自动化调试
控制IBERT扫描 · 批量修改寄存器 · 自动化测试
脚本自动化
第15章
多通道同步问题
Skew校准 · 通道绑定 (Channel Bonding)
同步多lane
第16章
参考时钟设计与调试
时钟抖动影响 · 时钟芯片选型 · 时钟树设计
时钟设计
第17章
电源噪声调试
电源纹波影响 · 示波器测量 · 去耦电容布局
电源噪声
第18章
S参数与通道建模
S参数基础 · 插损/回损 · 仿真评估
通道建模
第19章
预加重与均衡调试
TX预加重/去加重 · RX CTLE/DFE调节
均衡调试
第20章
协议层调试 (PCIe)
LTSSM状态机 · Gen1/2/3/4调试差异
PCIe协议
第21章
协议层调试 (Ethernet)
10G/25G PCS层 · FEC功能验证
以太网FEC
第22章
协议层调试 (JESD204B)
链路建立 · SYSREF · 确定性延迟
JESD204B转换器
第23章
高速信号测量
示波器测量 · 差分探头 · 眼图模板测试
测量示波器
第24章
温度与电压特性测试
性能随温度/电压变化 · 极限条件测试
环境可靠性
第25章
误码率(BER)测试深入
BER浴盆曲线 · 置信度 · 测试时间
误码统计
第26章
板级调试案例1
光模块链路不稳定 · 眼图到寄存器排查
案例光模块
第27章
板级调试案例2
背板长距离传输失败 · 分析与解决
案例背板
第28章
板级调试案例3
多板互联时钟不同步 · 处理方案
案例时钟
第29章
自动化测试系统搭建
Python控制IBERT · 批量测试 · 报告生成
自动化Python
第30章
课程总结与进阶路径
常见问题速查 · 推荐资源 · 从调试到设计
总结进阶