第1章
DFT基础概念
什么是DFT · 为什么需要DFT · DFT在芯片设计流程中的位置
入门核心
第2章
扫描链原理
扫描链基本结构 · 扫描触发器 · 扫描模式与功能模式切换
结构必学
第3章
扫描链设计实战
扫描链插入流程 · 时钟与复位信号处理 · 扫描链长度优化
实战优化
第4章
扫描链测试与调试
测试向量生成 · 故障诊断 · 良率分析
调试诊断
第5章
ATPG基础
ATPG概念 · D算法 · PODEM算法 · FAN算法
算法ATPG
第6章
ATPG实战
ATPG工具使用 · 故障模型选择 · 测试覆盖率优化
工具覆盖率
第7章
边界扫描（JTAG）
IEEE 1149.1 · TAP控制器 · 指令寄存器与数据寄存器
JTAG标准
第8章
边界扫描实战
边界扫描链设计 · BSDL文件编写 · 测试应用
BSDL实战
第9章
存储器BIST
MBIST原理 · MBIST架构 · March算法
存储器BIST
第10章
存储器BIST实战
MBIST控制器设计 · 测试流程 · 修复与冗余分析
设计修复
第11章
逻辑BIST
逻辑BIST架构 · PRPG与MISR · STUMPS架构
LBIST架构
第12章
逻辑BIST实战
LBIST插入流程 · 测试模式生成 · 覆盖率分析
插入分析
第13章
测试压缩技术
测试数据压缩原理 · X-tolerant压缩 · 自适应扫描压缩
压缩X-tolerant
第14章
测试压缩实战
压缩工具配置 · 压缩率优化 · 对故障诊断的影响
配置诊断
第15章
DFT时序分析
DFT路径时序约束 · 扫描时钟树综合 · 保持时间修复
时序时钟树
第16章
DFT功耗分析
扫描测试功耗问题 · 低功耗DFT技术 · 门控时钟在DFT中的应用
功耗低功耗
第17章
DFT与物理设计
DFT与布局布线 · DFT与时钟树综合 · DFT与电源网络
物理设计后端
第18章
DFT验证
DFT网表验证 · DFT规则检查 · DFT仿真与形式验证
验证仿真
第19章
ATE测试基础
ATE设备架构 · 测试程序开发 · 测试向量格式
ATE测试机
第20章
ATE测试实战
ATE测试流程 · 参数测试 · 功能测试与结构测试
实战参数
第21章
良率分析与失效分析
良率模型 · 失效定位技术 · 扫描链诊断
良率失效
第22章
良率提升实战
良率提升流程 · 测试数据挖掘 · 良率与测试覆盖率关系
提升数据挖掘
第23章
DFT for Automotive
ISO 26262标准 · 功能安全与DFT · 在线测试与离线测试
汽车功能安全
第24章
DFT for AI芯片
AI芯片测试挑战 · 高并行测试 · 片上传感器与监控
AI并行
第25章
DFT for 3D IC
3D IC测试挑战 · TSV测试 · 堆叠芯片DFT架构
3D ICTSV
第26章
DFT for 先进工艺
FinFET工艺测试挑战 · 工艺偏差与测试 · 老化测试
FinFET老化
第27章
DFT脚本与自动化
Tcl脚本在DFT中的应用 · DFT流程自动化 · Makefile管理
脚本自动化
第28章
DFT项目管理
DFT计划制定 · 团队协作 · 里程碑与交付物管理
管理协作
第29章
DFT案例分析
经典DFT案例复盘 · 常见问题与解决方案 · 经验总结
案例复盘
第30章
DFT前沿技术
AI在DFT中的应用 · 自适应测试 · 大数据驱动的测试优化
前沿AI