01
DFT测试基础
什么是DFT、DFT在芯片设计中的角色、常见的DFT技术（扫描链、BIST、边界扫描）
扫描链BIST边界扫描
02
测试向量生成
ATPG基础、故障模型（Stuck-at、Transition Delay）、测试向量格式（STIL、WGL）
ATPG故障模型STIL
03
测试结果日志解析
Tester日志结构、Pass/Fail统计、Shmoo图初步解读
日志Shmoo统计
04
故障诊断入门
故障字典（Fault Dictionary）概念、诊断分辨率、诊断算法（路径追踪、效应传播）
故障字典分辨率路径追踪
05
扫描链诊断
扫描链失效模式（短路、断路）、扫描链测试模式、诊断流程
扫描链失效诊断
06
逻辑BIST诊断
LBIST架构、MISR签名分析、故障定位方法
LBISTMISR签名
07
存储器BIST诊断
MBIST算法（March C+、Checkerboard）、修复分析（Repair Analysis）
MBISTMarch C+修复
08
边界扫描测试
JTAG标准、BSDL文件解析、互连测试诊断
JTAGBSDL互连
09
良率分析基础
良率与DFT的关系、良率损失分类（系统性、随机性）、良率学习
良率系统性随机性
10
测试数据管理
数据格式标准化、数据库存储、数据可视化
标准化数据库可视化
11
自动化诊断流程
脚本化诊断、TCL/Python在诊断中的应用、流程集成
脚本TCLPython
12
诊断分辨率优化
如何提高诊断精度、多故障诊断、模糊诊断处理
分辨率多故障模糊
13
物理失效分析关联
诊断结果与PFA的对应、热点分析、失效定位验证
PFA热点定位
14
测试时间优化
压缩测试模式、多站点测试、测试成本分析
压缩多站点成本
15
良率提升案例
实际芯片良率提升案例、诊断驱动的良率改进
案例良率改进诊断驱动
16
DFT设计规则检查
DRC规则、可测试性分析、设计修改建议
DRC可测试性修改建议
17
测试覆盖率分析
覆盖率模型、覆盖率提升策略、未覆盖点分析
覆盖率模型未覆盖点
18
时序感知测试
Transition Delay测试、Small Delay Defect检测、时序诊断
TransitionSmall Delay时序
19
功耗感知测试
测试功耗问题、低功耗DFT技术、功耗仿真
低功耗DFT仿真
20
3D IC测试
TSV测试、堆叠芯片测试、Known Good Die概念
TSV堆叠KGD
21
模拟与混合信号测试
ADC/DAC测试、PLL测试、混合信号诊断
ADCPLL混合信号
22
车规级DFT
ISO 26262标准、功能安全、在线测试（In-System Test）
ISO 26262功能安全在线测试
23
AI/ML在DFT中的应用
机器学习预测良率、智能诊断、测试模式优化
机器学习智能诊断优化
24
测试设备与接口
ATE架构、探针卡、负载板设计要点
ATE探针卡负载板
25
测试程序开发
测试程序结构、Pattern转换、调试技巧
Pattern转换调试
26
量产测试管理
良率监控、统计过程控制（SPC）、测试良率提升
SPC监控良率提升
27
故障仿真与验证
故障仿真工具、仿真结果分析、诊断验证
仿真验证工具
28
诊断报告生成
报告模板、关键指标、可视化图表
报告指标可视化
29
团队协作与流程
DFT团队角色、设计-测试协同、版本管理
团队协同版本管理
30
未来趋势
新型故障模型、自适应测试、数字孪生在测试中的应用
故障模型自适应数字孪生