第01章
DFT基础概念
什么是DFT · 为什么需要DFT · DFT在芯片设计流程中的位置
入门核心
第02章
测试基础理论
故障模型(Stuck-at, Transition, Bridging) · 测试覆盖率 · ATPG概念
理论故障
第03章
扫描链设计 (Scan Chain)
扫描链原理 · 扫描触发器类型 · 扫描链插入流程
设计Scan
第04章
扫描链测试
扫描链测试向量生成 · 扫描链测试调试 · 扫描链故障诊断
测试调试
第05章
ATE测试平台
ATE基本架构 · ATE测试流程 · ATE与DFT的接口
平台ATE
第06章
测试向量格式
WGL · STIL · VCD/Tabular格式介绍与转换
格式转换
第07章
边界扫描测试 (JTAG)
JTAG标准(IEEE 1149.1) · TAP控制器 · 边界扫描寄存器
JTAG标准
第08章
内建自测试 (BIST)
Memory BIST原理 · Logic BIST原理 · BIST控制器设计
BIST内建
第09章
测试压缩技术
测试数据压缩原理 · X-tolerant技术 · 压缩解压架构
压缩X-tolerant
第10章
功耗感知测试
测试模式功耗问题 · 低功耗扫描链设计 · 功耗约束下的ATPG
低功耗ATPG
第11章
DFT设计规则检查 (DRC)
DRC规则集 · 常见DRC违例及修复 · DRC工具使用
DRC检查
第12章
测试点插入 (Test Point)
测试点类型 · 插入策略 · 对覆盖率的影响
Test Point覆盖率
第13章
ATPG基础
ATPG算法(D算法, PODEM, FAN) · ATPG流程 · ATPG工具使用
ATPG算法
第14章
ATPG高级技术
时序ATPG · 路径延迟测试 · Small Delay Defect测试
时序延迟
第15章
测试良率分析
良率与测试的关系 · 测试逃逸分析 · DPPM计算
良率DPPM
第16章
DFT项目实战
DFT设计规格书编写 · DFT实现流程 · 项目交付物
实战项目
第17章
SoC DFT架构
层次化DFT设计 · 跨时钟域测试 · 模拟IP测试
SoC架构
第18章
高速接口测试
SerDes测试 · DDR测试 · PLL测试方法
高速接口
第19章
测试成本优化
测试时间优化 · 测试向量压缩 · 多站点测试策略
成本优化
第20章
DFT与后端集成
DFT与综合 · DFT与布局布线 · DFT与时序收敛
后端集成
第21章
测试诊断与失效分析
扫描链诊断 · 逻辑诊断 · 良率诊断流程
诊断失效
第22章
车规级DFT
ISO 26262对DFT的要求 · 功能安全测试 · 在线测试机制
车规功能安全
第23章
DFT脚本自动化
Tcl脚本在DFT中的应用 · 流程自动化 · 报告生成
脚本Tcl
第24章
测试数据管理
测试数据库设计 · 数据格式标准化 · 大数据分析基础
数据管理
第25章
DFT前沿技术
机器学习在DFT中的应用 · 自适应测试 · 3D IC测试
前沿ML
第26章
测试接口协议
IEEE 1687 (IJTAG) · IEEE 1838 · 测试访问机制
协议IJTAG
第27章
模拟与混合信号测试
ADC/DAC测试 · PLL测试 · 模拟BIST
混合信号模拟
第28章
DFT验证与仿真
测试模式仿真 · 时序仿真 · 门级仿真
验证仿真
第29章
DFT项目管理
团队协作 · 版本控制 · 质量保证 · 里程碑管理
管理协作
第30章
综合案例实战
从RTL到测试交付的完整DFT流程实战演练
实战全流程