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185-ATE量产测试与V93000平台

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6门 系列课程
芯片硬件与光电工程 所属方向
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01
《3D IC TSV与堆叠测试》
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02
《Advantest V93000 ATE测试开发》
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03
《ASIC芯片测试与良率分析》
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04
《DFT诊断与故障定位》
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05
《TestMAX DFT测试设计》
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06
《数字芯片ATE测试向量生成》
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