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本课程属于：185-ATE量产测试与V93000平台 芯片硬件与光电工程 · 共 6 门相关课程，组合学习更完整。

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Synopsys TestMAX DFT测试设计从入门到精通

共计 30 章节

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DFT测试设计的意义 · Synopsys TestMAX工具… · 课程学习路径与目标

课程导入DFT

数字IC测试基础

故障模型（固定故障 · 跳变故障 · 桥接故障）

扫描链设计原理

扫描触发器结构 · 扫描链插入流程 · 扫描使能控制

扫描链设计原理扫描触发器结构

TestMAX DFT工具入门

工具安装与许可证配置 · 图形界面与命令行启动 · 设计读入与库设置

TestMAX DFT设计规则检查

DRC规则分类 · 违规报告解读 · 常见DRC错误修复方法

扫描链插入实战

使用TestMAX DFT自动插入扫… · 时钟与复位处理 · 扫描链平衡与布线约束

扫描链插入实战TestMAX

ATPG基础与TestMAX ATPG

ATPG原理 · 故障列表生成 · 测试向量生成流程

TestMAX ATPG高级模式

压缩ATPG · 低功耗ATPG · 时序ATPG

BIST（内建自测试）设计

Logic BIST原理 · Memory BIST架构 · TestMAX BIST工具配置与插…

BIST内建自测试

TestMAX Memory Repair

存储器修复流程 · 冗余行/列分析 · 修复方案生成与验证

边界扫描与JTAG

IEEE 1149.1标准 · 边界扫描单元设计 · TestMAX BSD工具使用

JTAG边界扫描

TestMAX Diagnosis

故障诊断原理 · 诊断数据格式 · 基于扫描链的诊断流程

TestMAXDiagnosis

层次化DFT设计

SoC级DFT规划 · IP核测试封装 · 测试访问机制（TAM）设计

TestMAX DFT与物理实现

DFT约束与SDC · 扫描链重排序 · 时钟树综合与DFT协同

测试功耗优化

测试模式功耗分析 · 低功耗DFT技术 · TestMAX低功耗特性

测试功耗优化测试模式功耗分析

TestMAX DFT脚本化操作

Tcl脚本基础 · 常用DFT命令 · 自动化流程构建

TestMAX DFT与形式验证

DFT插入后的等价性检查 · 形式验证流程与常见问题

测试向量格式与ATE接口

WGL/STIL/VCD格式转换 · ATE测试程序生成 · 向量调试

ATE测试向量格式

TestMAX DFT项目实战（一）

小型设计全流程DFT实现 · 从RTL到测试向量生成

TestMAX DFT项目实战（二）

中规模SoC DFT设计 · 包括扫描 · BIST

TestMAX DFT项目实战（三）

故障诊断与良率分析实战 · 使用TestMAX Diagnosi…

常见问题与调试技巧

DRC违例处理 · 覆盖率不足分析 · ATPG运行时间优化

常见问题调试技巧

TestMAX DFT与其他工具集成

与VCS仿真 · PrimeTime时序 · IC Compiler物理实现的协同

DFT测试标准与规范

IEEE 1500 · IEEE 1687 · IEEE 1149.6等标准在Tes…

DFT测试标准

TestMAX DFT新特性与版本更新

最新版本功能 · 机器学习在DFT中的应用 · 云平台支持

DFT测试策略规划

不同芯片类型（数字 · 混合信号 · 存储器）的DFT策略选择

DFT测试策略规划

TestMAX DFT脚本库开发

封装常用DFT流程为可重用脚本 · 参数化设计 · 回归测试

DFT测试成本分析

测试时间 · 测试向量量 · 硬件开销的权衡

DFT测试成本分析

综合提升与认证准备

DFT工程师技能树 · 面试常见问题 · Synopsys官方认证考试要点

综合提升认证准备

课程总结与项目答辩

综合项目展示 · 常见错误复盘 · 学习资源推荐与职业发展路径

课程总结项目答辩