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DFT可测试性设计诊断与故障定位入门到精通

共计 30 章节
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01
课程导入
DFT（可测试性设计）的定义 · 发展历程 · 在芯片全流程中的价值
课程导入DFT
02
可测试性基础
可观测性 · 可控性 · 可预测性等基本概念
可测试性基础可观测性
03
故障模型与失效机制
常见故障模型（固定故障 · 跳变故障 · 桥接故障
故障模型失效机制
04
扫描链设计基础
扫描链的基本原理 · 扫描触发器结构 · 扫描链插入方法
扫描链设计基础扫描链的基本原理
05
扫描链诊断入门
扫描链故障的类型（如断链 · 短路 · 时钟问题）
扫描链诊断入门扫描链故障的类型
06
逻辑内置自测试（BIST）与诊断
BIST架构 · 伪随机测试生成 · 响应分析
BIST逻辑内置自测试
07
压缩测试与诊断
测试压缩技术（如X-compact · EDT） · 压缩对诊断的影响
压缩测试诊断
08
故障诊断基础
基于故障字典的诊断 · 基于因果推理的诊断 · 诊断分辨率与诊断精度的概念
故障诊断基础基于故障字典的诊…
09
故障字典构建与优化
故障字典的生成方法 · 存储优化 · 索引技术
故障字典构建优化
10
基于扫描链的故障定位
扫描链上故障的定位方法 · 包括链测试 · 链诊断
基于扫描链的故障…扫描链上故障的定…
11
逻辑诊断算法
单故障与多故障诊断算法 · 路径追踪 · 锥体分析
逻辑诊断算法单故障
12
时序诊断与延迟故障定位
时序故障的建模 · 延迟故障的诊断方法 · 以及利用时序信息进行故障定位
时序诊断延迟故障定位
13
诊断数据格式与标准
WGL · STIL · TDL等测试与诊断数据格式
诊断数据格式标准
14
诊断工具与流程
主流EDA工具（如Tessent · DFTMAX等）的诊断流程 · 参数设置和结果解读
诊断工具流程
15
案例实战
一个简单SoC的扫描链故障诊断实战 · 从测试失效到定位到具体扫描单元
案例实战SoC
16
案例实战
逻辑BIST故障诊断实战 · 利用片上响应分析定位逻辑故障
案例实战BIST
17
案例实战
压缩测试环境下的故障诊断实战 · 处理X态和压缩混淆问题
案例实战压缩测试环境下的…
18
案例实战
多故障同时存在的诊断实战 · 如何区分和定位多个独立故障
案例实战多故障同时存
19
案例实战
时序故障诊断实战 · 利用时序信息定位延迟故障
案例实战时序故障诊断实战
20
诊断分辨率提升技术
通过增加观测点 · 改进扫描链结构 · 使用诊断测试向量等方法提高诊断分辨率
诊断分辨率提升技…通过增加观测点
21
诊断驱动的测试优化
利用诊断结果优化测试向量 · 测试点插入和扫描链设计 · 形成闭环
诊断驱动的测试优…利用诊断结果优化…
22
可诊断性设计（DFD）
在设计阶段考虑诊断需求 · 如诊断链 · 诊断寄存器
DFD可诊断性设计
23
系统级诊断与故障定位
从芯片级到系统级的诊断方法 · 包括板级 · 系统级故障传播与定位
系统级诊断故障定位
24
机器学习在诊断中的应用
利用机器学习算法进行故障分类 · 预测和诊断 · 提升诊断效率和准确性
机器学习诊断
25
诊断与良率分析
通过诊断数据辅助良率提升 · 识别系统性缺陷和随机缺陷
诊断良率分析
26
诊断与失效分析（FA）联动
诊断结果如何指导物理失效分析 · 以及FA结果如何反馈优化诊断模型
FA诊断
27
常见问题与陷阱
诊断中的常见误区（如误诊断 · 分辨率不足 · 数据不完整）及应对策略
常见问题陷阱
28
高级主题
基于硅调试的诊断 · 在线诊断 · 自适应测试与诊断
高级主题基于硅调试的诊断
29
综合项目实战
从RTL设计到DFT插入 · 测试生成 · 故障模拟
综合项目实战RTL
30
课程总结与进阶路径
回顾核心知识点 · 推荐进阶学习资源 · 以及如何在实际项目中持续提升诊断与故…
课程总结进阶路径