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本课程属于：185-ATE量产测试与V93000平台 芯片硬件与光电工程 · 共 6 门相关课程，组合学习更完整。
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数字芯片ATE测试向量生成技巧

共计 30 章节
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01
课程导入
ATE测试的基本概念 · 测试向量在数字芯片测试中的重要性 · 课程学习目标与整体框架
课程导入ATE
02
数字芯片测试基础
数字芯片测试的基本流程 · 测试类型（功能测试 · 参数测试
数字芯片测试基础数字芯片测试的基…
03
ATE测试系统概述
典型ATE系统架构（如Teradyn… · Advantest） · 测试通道
ATE测试系统概述
04
测试向量格式与标准
常见向量格式（如WGL · STIL · VCD）
测试向量格式标准
05
测试向量生成流程
从设计仿真到ATE测试向量的完整流程 · EDA工具（如TetraMAX · Modus）与ATE的衔接
测试向量生成流程ATE
06
测试向量生成基础方法
基于仿真波形生成 · 基于故障模型生成 · 基于扫描链的向量生成
测试向量生成基础…基于仿真波形生成
07
时序与波形定义
测试向量中的时序参数（周期 · 沿 · 建立保持时间）
时序波形定义
08
测试向量压缩技术
向量压缩原理 · 常见压缩算法（如LFSR · 字典压缩）
测试向量压缩技术向量压缩原理
09
扫描链测试向量生成
扫描链原理 · 扫描向量生成方法（移位 · 捕获）
扫描链测试向量生…扫描链原理
10
BIST与测试向量
内建自测试（BIST）概念 · BIST向量生成与ATE测试的配合 · BIST对向量生成的影响
BIST测试向量
11
测试向量与故障覆盖率
故障模型（固定故障 · 转换故障 · 路径延迟故障）
测试向量故障覆盖率
12
测试向量生成工具实战
使用主流EDA工具（如TetraMA… · Modus · TestKompress）生成测试向…
测试向量生成工具…EDA
13
向量格式转换实战
将仿真波形（VCD/FSDB）转换为… · 常见转换问题与解决
向量格式转换实战VCD/FSDB
14
ATE向量调试技巧
在ATE上调试测试向量失败的方法 · 波形查看 · 时序调整
ATE向量调试技巧
15
测试向量优化策略
减少测试时间 · 降低测试成本 · 提高覆盖率的多目标优化方法
测试向量优化策略减少测试时间
16
多站点测试与向量管理
多站点并行测试的向量分配 · 向量内存管理 · 向量分块与调度
多站点测试向量管理
17
高速接口测试向量
高速数字接口（如DDR · SerDes）的测试向量生成特点 · 眼图与抖动对向量的影响
高速接口测试向量DDR
18
模拟与混合信号芯片的向量处理
混合信号芯片中数字向量的特殊要求 · 与模拟测试的协同
模拟混合信号芯片的向…
19
测试向量与DFT设计
可测性设计（DFT）对向量生成的影响 · 扫描链插入 · BIST集成与向量简化
DFT测试向量
20
案例实战
典型数字芯片（如MCU · SoC）的测试向量生成全流程演示 · 从RTL到ATE测试
案例实战MCU
21
案例实战
扫描链故障诊断与向量修复 · 通过实际案例学习如何定位并修正向量问…
案例实战扫描链故障诊断
22
案例实战
测试向量压缩在量产测试中的应用 · 对比压缩前后测试时间与覆盖率
案例实战测试向量压缩
23
常见问题与解决
向量生成中的时序冲突 · 格式转换错误 · 覆盖率不足等常见问题及解决方案
常见问题解决
24
测试向量与ATE硬件交互
向量加载 · 通道映射 · 电平设置
ATE测试向量
25
测试向量验证与仿真
在ATE上执行前的仿真验证方法 · 使用虚拟测试平台预验证向量
测试向量验证仿真
26
测试向量生成自动化
脚本化批量生成向量 · 自动化流程搭建 · 与版本控制系统的集成
测试向量生成自动…脚本化批量生成向…
27
测试向量与良率分析
向量对测试良率的影响 · 如何通过向量优化减少误杀与漏杀
测试向量良率分析
28
先进工艺下的向量挑战
FinFET · 纳米级工艺对测试向量生成的新挑战 · 时序与功耗考虑
先进工艺下的向量…FinFET
29
综合提升
构建完整的测试向量生成知识体系 · 制定个人学习路径 · 推荐工具与资源
综合提升构建完整的测试向…
30
课程总结与项目实战
综合运用所学知识完成一个完整的ATE… · 并进行评估与优化
课程总结项目实战