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024-DFT、ATPG与芯片可测试性设计

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7门 系列课程
芯片硬件与光电工程 所属方向
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01
《DFT Fail从测试现象到逻辑根因定位实战》
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02
《DFT Scan插入、ATPG与MBIST签核项目》
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03
《DFT工程师面试宝典》
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04
《DFT验证环境、Test Mode与测试时钟搭建实战》
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05
《IEEE1500与1687 DFT集成工程》
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06
《SVA断言在DFT测试控制逻辑验证中的应用》
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07
《断言驱动DFT测试模式与异常场景验证实战》
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