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本课程属于：024-DFT、ATPG与芯片可测试性设计 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。

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DFT工程师面试宝典

共计 30 章节

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面试通关路线

① 岗位认知 ② 简历优化 ③ 能力突破 ④ 企业实战 ⑤ Offer冲刺

岗位能力画像与简历优化模板

岗位能力画像 · 简历结构 · 关键词清单

岗位能力画像简历优化模板

自我介绍模板与表达技巧

30秒/1分钟/3分钟自我介绍的ST… · 常见误区 · 重点突出

自我介绍模板表达技巧

面试评分表与自我评估

面试维度的权重 · 技术/项目/沟通打分标准 · 自评与改进

面试评分表自我评估

模拟面试清单

高频问题清单 · 模拟流程 · 反馈模板

模拟面试清单高频问题清单

扫描链基础知识

扫描链原理 · 扫描触发器 · 扫描模式

扫描链基础知识扫描链原理

ATPG与故障模型

单固定故障 · 故障覆盖率 · ATPG算法（D算法

ATPG故障模型

JTAG与边界扫描

IEEE 1149.1标准 · TAP控制器 · 指令寄存器

JTAG边界扫描

内置自测试原理 · 伪随机测试 · 响应分析

测试压缩技术

多扫描链 · 测试数据压缩 · X位处理

测试压缩技术多扫描链

DFT流程与工具链

前端DFT规划 · 脚本（TCL/Perl） · 工具（Synopsys DFT Co…

时序分析与DFT

扫描路径时序 · 保持时间修复 · 时钟域交叉

DFT时序分析

门控时钟扫描 · 电源域隔离 · 低功耗测试模式

良率分析与测试覆盖率

测试覆盖率计算 · 良率提升 · SDF与故障字典

良率分析测试覆盖率

DFT与物理设计接口

布局布线对DFT影响 · 扫描链重排序 · 物理约束

DFT物理设计接口

真实项目案例一

某SoC扫描链插入项目：背景 · 规模 · 技术栈

真实项目案例一SoC

真实项目案例二

某芯片ATPG与测试压缩项目 · STAR回答模板 · 面试追问

真实项目案例二ATPG

真实项目案例三

存储器BIST设计与实现：项目包装 · 常见问题 · 可迁移话术

真实项目案例三BIST

项目包装与STAR法则

如何用STAR描述项目 · 量化成果 · 突出个人贡献

STAR项目包装

大厂模拟面试一（华为）

面试官提问->候选人回答->普通答案…

大厂模拟面试一华为

大厂模拟面试二（高通）

同上结构 · 侧重信号处理芯片DFT

大厂模拟面试二高通

大厂模拟面试三（联发科）

同上结构 · 侧重消费电子SoC DFT

大厂模拟面试三联发科

大厂模拟面试四（苹果/Google）

同上结构 · 侧重新架构 · 低功耗

Google大厂模拟面试四

非技术岗位面试准备

沟通能力 · 团队协作 · 项目管理

非技术岗位面试准…沟通能力

管理岗面试

团队领导 · DFT策略制定 · 跨部门协调

管理岗面试团队领导

校招面试专项

基础知识 · 实习项目 · 学习能力

校招面试专项基础知识

社招面试专项

工作经验深挖 · 跳槽动机 · 项目复杂度

社招面试专项工作经验深挖

英文面试专项

技术术语英文表达 · 英文自我介绍 · 英文案例回答

英文面试专项技术术语英文表达

应对压力面试与刁钻问题

如何处理“我不懂”的问题 · 如何展示学习能力 · 如何转移话题

应对压力面试刁钻问题

面试总结与后续跟进

面试后感谢信 · 复盘技巧 · offer选择

面试总结后续跟进

综合面试清单与行动计划

各阶段准备清单 · 时间线 · 资源推荐

综合面试清单行动计划