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本课程属于：024-DFT、ATPG与芯片可测试性设计 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。

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断言在DFT测试中的应用

📚 共计 30 章节

DFT测试概述

什么是DFT · 重要性 · 基本流程

断言定义 · 作用 · 与测试点区别

SVA语法入门

基本结构 · 序列与属性 · 关键字

扫描链测试中的断言

扫描链原理 · 完整性检查 · 故障模型

扫描链故障

BIST测试中的断言

BIST概念 · 监控状态机 · 完成信号

边界扫描测试中的断言

JTAG协议 · 边界扫描链 · TAP控制器

JTAG边界扫描

ATPG测试中的断言

ATPG流程 · 模式加载 · 响应分析

ATPG测试模式

内存测试中的断言

内存BIST · 算法断言 · 修复分析

时钟与复位测试中的断言

时钟门控 · 复位同步 · 时钟域交叉

功耗测试中的断言

功耗模式 · DVFS断言 · 低功耗设计

模拟与混合信号测试中的断言

数字化断言 · ADC/DAC · 混合环路

混合信号ADC

高速接口测试中的断言

SerDes · 高速IO时序 · 眼图测试

安全测试中的断言

安全扫描链 · 加密模块 · 防篡改

老化测试中的断言

老化概念 · 监控条件 · 时序断言

老化可靠性

良率分析中的断言

良率数据 · 测试覆盖率 · 优化向量

良率覆盖率

测试压缩中的断言

压缩原理 · 压缩器检查 · 故障诊断

片上测试控制器中的断言

状态机断言 · 调度执行 · 响应分析

控制器调度

测试诊断中的断言

故障诊断流程 · 定位故障 · 分辨率评估

诊断故障定位

测试时序分析中的断言

测试时序概念 · 测试时钟 · 路径时序

测试功耗分析中的断言

功耗模型 · 监控功耗 · 功耗安全

功耗分析安全

测试数据管理中的断言

数据完整性 · 向量格式 · 日志检查

测试自动化中的断言

自动化脚本 · 环境检查 · 回归测试

自动化回归

测试覆盖率分析中的断言

覆盖率模型 · 收敛断言 · 报告检查

覆盖率收敛

测试质量评估中的断言

质量指标 · 评估断言 · 质量报告

测试成本优化中的断言

成本模型 · 优化时间 · 成本评估

测试可靠性评估中的断言

可靠性测试 · 寿命测试 · 报告断言

可靠性寿命

测试标准合规性中的断言

IEEE 1149.1 · IEEE 1500 · 其他标准

测试仿真中的断言

仿真环境 · 结果检查 · 覆盖率断言

测试验证中的断言

验证协同 · 桥接验证 · 环境复用

测试未来趋势中的断言

AI驱动 · 自适应测试 · 3D IC挑战