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本课程属于：024-DFT、ATPG与芯片可测试性设计 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。
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DFT Scan插入、ATPG与MBIST签核项目

共计 30 章节
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01
课程导入
目标=DFT在芯片设计中的价值 · 学习目标 · 三大模块Scan插入
课程导入DFT
02
DFT基础概念
目标=可测性设计定义 · 故障模型 · 可控性与可观测性
DFT基础概念
03
Scan插入基础
目标=扫描链原理 · 扫描触发器 · 多路选择器插入
Scan插入基础
04
Scan插入流程
目标=RTL阶段规划 · 综合脚本 · DFT Compiler/DFTMA…
Scan插入流程
05
Scan插入实战
目标=在典型模块中完成扫描替换 · 链数规划 · 时钟域处理与扫描链平衡
Scan插入实战
06
Scan插入常见问题
目标=时钟域交叉 · 锁存器处理 · 三态总线
Scan插入常见问题
07
ATPG基础
目标=自动测试向量生成原理 · 组合逻辑与时序逻辑ATPG · D算法与PODEM简介
ATPG目标=自动测试向…
08
ATPG流程
目标=TetraMAX/TestKo… · 测试协议文件 · 库文件设置
ATPG流程
09
ATPG覆盖率提升
目标=故障模型扩展 · 测试点插入 · X屏蔽
ATPG覆盖率提升
10
ATPG实战
目标=针对给定网表运行ATPG · 分析未检测故障 · 优化向量集与覆盖率报告
ATPG目标=针对给定网…
11
ATPG常见问题
目标=不可测故障 · 伪故障 · 时钟与复位约束
ATPG常见问题
12
MBIST基础
目标=存储器测试原理 · March算法 · MBIST控制器架构与存储器内建自测…
MBIST目标=存储器测试…
13
MBIST流程
目标=MBIST插入 · 存储器分组 · 算法选择
MBIST流程
14
MBIST实战
目标=为SRAM/ROM插入MBIS… · 配置March C-算法 · 生成测试向量与仿真验证
MBISTSRAM/ROM
15
MBIST常见问题
目标=多端口存储器 · 存储器修复 · 冗余分析
MBIST常见问题
16
DFT签核流程
目标=签核目标 · 覆盖率签核 · 时序签核
DFT签核流程
17
DFT签核指标
目标=测试覆盖率 · 故障覆盖率 · 测试时间
DFT签核指标
18
DFT签核实战
目标=完成Scan插入 · ATPG与MBIST的联合签核 · 生成签核报告与问题清单
DFT签核实战
19
DFT验证
目标=扫描链仿真 · ATPG向量仿真 · MBIST仿真
DFT验证
20
DFT与物理设计
目标=扫描链重排序 · 时钟树综合 · 布线拥塞
DFT物理设计
21
低功耗DFT
目标=低功耗扫描 · 时钟门控 · 电源域测试
DFT低功耗
22
层次化DFT
目标=模块级与芯片级DFT · 核心级测试包装 · 测试访问机制与IEEE 1500标准
DFT层次化
23
DFT压缩技术
目标=测试压缩原理 · 片上压缩 · EDT
DFT压缩技术
24
DFT诊断与良率
目标=故障诊断流程 · 失效分析 · 良率提升
DFT诊断
25
DFT项目综合实战一
目标=从RTL到GDSII的完整DF… · 包括Scan插入 · ATPG与MBIST集成
DFT项目综合实战一
26
DFT项目综合实战二
目标=签核评审 · 问题定位 · 跨团队协作与项目交付物管理
DFT项目综合实战二
27
DFT工具链
目标=主流EDA工具介绍 · 脚本自动化 · 流程集成
DFT工具链
28
DFT常见问题与调试
目标=扫描链断裂 · ATPG不收敛 · MBIST失败
DFT常见问题
29
DFT前沿趋势
目标=3D IC测试 · Chiplet测试 · AI辅助DFT
DFT前沿趋势
30
课程总结与提升
目标=知识体系回顾 · 能力自评 · 进阶学习路径与DFT工程师职业发展建…
课程总结提升