01
DFT基础概念
什么是DFT、为什么需要DFT、DFT在芯片设计流程中的位置
概念芯片设计
02
测试原理入门
故障模型（Stuck-at、Transition Delay）、测试覆盖率概念
故障模型覆盖率
03
扫描链（Scan Chain）原理
扫描触发器结构、扫描链插入流程、扫描模式与功能模式切换
扫描链DFT
04
ATPG（自动测试向量生成）基础
ATPG算法简介（D算法、PODEM）、测试向量生成流程
ATPG算法
05
Boundary Scan与JTAG
IEEE 1149.1标准、TAP控制器、指令寄存器与数据寄存器
边界扫描JTAG
06
MBIST（存储器内建自测试）入门
存储器故障类型、MBIST架构、BIST控制器与March算法
MBIST存储器
07
EDA工具链概览
Synopsys DFT Compiler、TetraMAX、Mentor Tessent、Cadence Modus
EDA工具链
08
环境搭建准备
Linux操作系统基础、Shell脚本基础、EDA工具安装与License配置
Linux环境
09
RTL代码准备
可测试性设计规则（避免异步复位、避免锁存器）、RTL代码检查与修改
RTL可测试性
10
DFT Compiler入门
启动工具、读入设计、设置DFT配置、执行扫描链插入
DFT Compiler扫描链
11
DFT Compiler进阶
多时钟域处理、扫描链分组与平衡、测试端口定义
多时钟域扫描链
12
TetraMAX入门
启动工具、读入网表与STIL文件、生成测试向量
TetraMAXSTIL
13
TetraMAX进阶
故障仿真、覆盖率分析、向量压缩与优化
故障仿真覆盖率
14
Tessent Shell入门
Tessent环境配置、读入设计、执行DFT规则检查
Tessent规则检查
15
Tessent Shell进阶
边界扫描插入、MBIST控制器插入、逻辑BIST（LBIST）配置
边界扫描MBIST
16
STIL与WGL格式
测试向量格式标准、STIL文件结构、WGL文件生成与转换
STILWGL
17
ATE（自动测试设备）基础
ATE硬件架构、测试程序开发流程、ATE与EDA工具的数据交互
ATE测试设备
18
测试程序开发
从STIL到ATE测试程序、Pattern转换、Timing定义与Level定义
测试程序Timing
19
DFT仿真验证
门级仿真、带测试向量的仿真、仿真波形分析
仿真验证
20
功耗分析
测试模式下的功耗问题、低功耗DFT技术（Power Gating、Clock Gating）
功耗低功耗
21
DFT规则检查（DRC）
DRC规则详解、常见DRC违例及修复方法
DRC规则检查
22
层次化DFT设计
模块级DFT与顶层DFT集成、Hierarchical Scan与Flat Scan对比
层次化Scan
23
测试压缩技术
Test Compression原理、X-tolerant与X-bounding、压缩比计算
压缩X-tolerant
24
诊断与良率分析
测试失败诊断流程、Volume Diagnosis、良率提升方法
诊断良率
25
DFT脚本自动化
Tcl脚本在DFT中的应用、自动化流程搭建、回归测试
Tcl自动化
26
项目实战1：小型SoC的DFT环境搭建
小型SoC的DFT环境搭建（RTL到网表）
项目SoC
27
项目实战2：小型SoC的ATPG与仿真验证
小型SoC的ATPG与仿真验证
ATPG仿真
28
项目实战3：小型SoC的ATE测试程序生成与调试
小型SoC的ATE测试程序生成与调试
ATE调试
29
DFT前沿技术
机器学习在DFT中的应用、3D IC测试、Chiplet测试挑战
前沿ML
30
课程总结与职业发展
DFT工程师技能树、学习路径、面试准备与行业趋势
职业总结