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先进材料、材料计算与可靠性工程
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013-材料微观、谱学与表面表征
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《材料显微表征实战100例》
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《材料显微表征实战100例》
共 100 例
01
金相试样切割与镶嵌方案选择
02
金相试样机械抛光参数优化
03
金属试样电解抛光与侵蚀操作
04
金相显微镜明场与暗场观察模式选择
05
金相显微镜偏光观察各向异性组织
06
金相显微镜微分干涉相衬观察表面浮凸
07
金相图像比例尺标定与尺寸测量
08
金相组织晶粒度截点法测定
09
金相组织面积分数与相比例统计
10
金相夹杂物级别评定与类型判别
11
钢中带状组织与偏析金相评定
12
铸铁石墨形态与分布显微分析
13
表面渗层深度与组织梯度测量
14
焊接接头金相组织分区观察
15
金属断口金相截面分析
16
扫描电镜样品制备与导电处理
17
扫描电镜二次电子与背散射电子成像选择
18
扫描电镜加速电压与工作距离优化
19
扫描电镜能谱点分析与元素定性
20
扫描电镜能谱面分布与元素偏析分析
21
扫描电镜能谱线扫描分析扩散层
22
电子探针波谱仪微区定量分析
23
电子背散射衍射样品制备与校准
24
EBSD晶粒取向与晶界类型分析
25
EBSD极图与反极图织构分析
26
EBSD相鉴定与相分布重构
27
透射电镜粉末样品分散与载网制备
28
透射电镜块体样品离子减薄制备
29
透射电镜明场与暗场成像操作
30
透射电镜选区电子衍射花样标定
31
透射电镜高分辨晶格像与晶面间距测量
32
透射电镜STEM-HAADF原子序数衬度观察
33
透射电镜能谱点分析与元素面分布
34
透射电镜电子能量损失谱元素与价态分析
35
扫描透射电镜高角环形暗场像厚度测量
36
X射线衍射物相定性分析
37
X射线衍射晶格参数精确测定
38
X射线衍射织构极图测量
39
X射线衍射残余应力测量
40
X射线衍射小角散射纳米尺度分析
41
X射线荧光光谱元素定性半定量分析
42
原子探针层析技术样品制备与针尖成形
43
原子探针层析技术三维原子分布重构
44
聚焦离子束微纳加工与截面制备
45
聚焦离子束三维重构与断层扫描
46
扫描探针显微镜表面形貌成像
47
原子力显微镜相图与力学性能映射
48
扫描隧道显微镜表面原子分辨成像
49
激光共聚焦显微镜三维表面形貌测量
50
白光干涉仪表面粗糙度与台阶测量
51
显微硬度测试与压痕尺寸效应分析
52
纳米压痕测试与载荷-位移曲线分析
53
显微划痕测试与涂层结合力评价
54
显微拉伸/压缩原位测试与组织演化观察
55
高温金相原位观察相变过程
56
环境扫描电镜含水/绝缘样品观察
57
低电压扫描电镜表面纳米结构观察
58
扫描电镜背散射电子衍射与EBSD联用
59
扫描电镜原位加热/冷却实验
60
透射电镜原位加热/加电实验
61
透射电镜冷冻样品制备与观察
62
电子断层扫描三维重构纳米结构
63
透射电镜会聚束电子衍射应变分析
64
透射电镜洛伦兹模式磁畴观察
65
扫描电镜磁畴观察与磁衬度分析
66
阴极发光显微分析半导体缺陷
67
拉曼光谱微区物相与应力分析
68
傅里叶变换红外光谱微区成分分析
69
紫外-可见-近红外显微光谱分析
70
X射线光电子能谱表面元素与价态分析
71
俄歇电子能谱微区表面成分分析
72
二次离子质谱深度剖析与元素分布
73
辉光放电光谱深度剖析
74
穆斯堡尔谱物相与价态分析
75
正电子湮没谱缺陷分析
76
热分析-显微联用观察相变
77
显微红外热成像温度场分析
78
显微图像拼接与大面积组织映射
79
显微图像景深扩展与三维重建
80
显微图像去噪与增强处理
81
显微图像分割与相区自动识别
82
显微图像晶粒自动重构与取向差分析
83
显微图像三维可视化与孔隙网络分析
84
X射线显微CT三维成像与缺陷检测
85
X射线显微CT原位压缩实验
86
显微CT与SEM数据关联分析
87
显微表征实验室安全与样品管理
88
显微表征仪器校准与期间核查
89
显微表征结果不确定度评估
90
显微表征标准选择与合规性判断
91
显微表征实验设计优化
92
显微表征数据报告与图像规范
93
显微表征故障排查:图像模糊与荷电
94
显微表征故障排查:金相假象识别
95
显微表征故障排查:EBSD花样质量差
96
显微表征故障排查:TEM样品污染与损伤
97
显微表征故障排查:XRD峰位偏移与异常峰
98
显微表征跨尺度关联:从光学到电镜
99
显微表征跨尺度关联:从XCT到EBSD
100
显微表征在失效分析中的综合应用
所属VIP或分类
同VIP:DSC材料热转变与相变分析工程
同VIP:FIB截面制样与失效分析工程
同VIP:SEM-EDS材料失效联合诊断工程