3. 保真度评估的测量基础

要评估一个量子纠缠光源的保真度,前提是先把“光源实际制备出的量子态”测量出来。保真度本身只是一个比较量:F = Tr(ρidealρexp) 或更常用的平方根形式,它需要实验密度矩阵 ρexp 与目标态 ρideal 同时已知。目标态由光源设计决定,而 ρexp 必须通过量子态层析(Quantum State Tomography,QST)从测量数据中重构。因此 QST 是保真度评估的测量基础,其完备性、统计误差与资源开销直接决定了保真度数值的可信度。

一、QST 的基本原理:从投影测量到密度矩阵

一个 d 维量子态的密度矩阵是 d×d 的厄米、半正定、迹为 1 的矩阵,独立实参数个数为 d²−1。以偏振纠缠光源最常用的双光子偏振态为例,每个光子是二维系统,两光子构成 d = 4 的希尔伯特空间,独立参数为 15 个。QST 的思路是:选取一组完备的投影测量基,对同一量子态的大量相同副本分别测量,得到各投影算符的期望值,再线性反演出密度矩阵。

对单光子偏振态,标准做法是在三个共轭基上测量:水平/垂直基 {|H⟩, |V⟩}、对角基 {|D⟩, |A⟩}、圆偏振基 {|R⟩, |L⟩}。每个基给出一个可观测量的期望值,对应泡利算符 σx、σy、σz。密度矩阵可写成 ρ = (I + aσx + bσy + cσz)/2,其中 a、b、c 就是三个基下测量得到的期望值。对双光子态,则需要在 9 个张量积基(3×3)上做符合测量,每个基下测 4 个投影组合,共 36 个投影计数。

二、测量算符的完备性

QST 能否唯一确定密度矩阵,取决于所选测量算符集合是否“完备”。数学上,一组投影算符 {Πi} 完备的条件是它们张成整个厄米算符空间,即任意密度矩阵都能写成这些算符的线性组合。对 d 维系统,至少需要 d² 个线性无关的测量算符。单光子情形下,6 个投影(3 个基 × 2 个结果)足以覆盖 4 维空间;双光子情形下,36 个投影覆盖 16 维空间,满足完备性要求。

实际实验中常见的“不完备”陷阱包括:只测了 H/V 和 D/A 两个基而漏掉圆偏振基,此时 σy 分量无法确定,重构出的密度矩阵会出现系统性偏差;或者符合计数中某个投影组合计数过低被丢弃,导致测量矩阵秩亏。判断方法是对测量矩阵做奇异值分解,若最小奇异值接近零,说明该组测量不完备,需要补测。

完备性检查的实用做法:把每个投影算符按厄米矩阵的实参数展开成列向量,拼成测量矩阵 M,计算 MTM 的条件数。条件数过大(例如超过 10³)意味着某些参数对测量误差极其敏感,应调整测量基或增加投影数量。

三、最大似然估计重构密度矩阵

线性反演(直接求逆)得到的密度矩阵往往不满足半正定性,会出现负本征值,这在物理上不可能。最大似然估计(MLE)通过约束优化解决这个问题:寻找使测量数据出现概率最大的物理密度矩阵。设第 i 个投影的测量计数为 ni,总计数 N = Σni,则似然函数为

L(ρ) = Πi [Tr(Πiρ)]ni

MLE 的标准参数化方式是 ρ = T†T / Tr(T†T),其中 T 为下三角复矩阵,这样构造出的 ρ 自动满足厄米、半正定、迹为 1。优化变量是 T 的 d² 个实参数,用迭代算法(如 RρR 迭代或梯度下降)最大化对数似然。以双光子偏振态为例,T 是 4×4 下三角矩阵,含 16 个实参数,扣除归一化后 15 个自由参数,与理论一致。

一个可参考的教学示例(数值为合理假设,非实测):设某偏振纠缠源目标态为 |Φ+⟩ = (|HH⟩+|VV⟩)/√2,在 9 个基下各累计约 2000 次符合计数,总计约 18000 次。经 MLE 重构后得到密度矩阵,其对角元 ρHH,HH ≈ 0.47、ρVV,VV ≈ 0.46,非对角元 ρHH,VV ≈ 0.44,其余元素接近零。据此计算与 |Φ+⟩ 的保真度约为 0.93。若不做 MLE 而直接线性反演,可能出现 ρHH,VV 的虚部异常或负本征值,保真度计算失去意义。

四、资源开销与误差来源

QST 的资源开销主要体现在三个方面。其一是测量基数量:d 维系统需要 d² 个投影,双光子偏振态需 36 个投影组合,若扩展到偏振+路径的 8 维态则需 81 个组合,测量时间成平方增长。其二是统计计数:每个投影的计数需足够大以压低泊松噪声,通常要求单投影计数在 10³ 量级以上,总测量时间随精度要求线性上升。其三是符合测量的死时间与探测器效率,会进一步拉长采集周期。

误差来源可分为统计误差与系统误差两类。统计误差来自有限计数,服从泊松分布,投影计数的相对不确定度约为 1/√n,它通过重构传播到密度矩阵各元素,最终反映为保真度的置信区间。系统误差则包括:测量基设置的角度偏差(如波片角度误差 0.5° 可引起约 1% 的保真度偏移)、探测器效率不匹配、背景计数与暗计数、以及光源本身在测量期间的漂移。后者尤其隐蔽——若光源功率或相位在 36 个投影的采集过程中缓慢漂移,各投影数据就不再对应同一量子态,重构结果会被“平均”成一个混合态,保真度被系统性低估。

双光子偏振态 QST 测量与 MLE 重构链路 纠缠光源 |Φ⁺⟩ 目标态 测量基设置 H/V · D/A · R/L 3×3 = 9 个张量积基 波片角度误差 ≤ 0.5° 符合测量 36 个投影组合 单投影计数 ≥ 10³ 泊松噪声 ~1/√n 计数数据 n_i,N = Σn_i 完备性检查 条件数 < 10³ 最大似然估计重构 ρ = T†T / Tr(T†T),T 为 4×4 下三角矩阵 最大化 L(ρ) = Π [Tr(Π_i ρ)]^n_i 15 个自由参数 · 保证半正定与迹为 1 实验密度矩阵 ρ_exp ρ_HH,HH ≈ 0.47 ρ_VV,VV ≈ 0.46 ρ_HH,VV ≈ 0.44 保真度计算 F = Tr(ρ_ideal ρ_exp) F ≈ 0.93 含统计置信区间 误差来源 统计:有限计数 系统:波片角度 暗计数 · 光源漂移 完备性:d 维系统需 d² 个线性无关投影算符;双光子偏振态 d=4,需 36 个投影组合

从工程角度看,控制误差的关键在于:测量前用已知态(如 |HH⟩ 直积态)标定波片角度与探测器效率;采集时采用随机化基序而非固定顺序,把光源慢漂移平均成随机噪声而非系统偏差;每个投影的计数达到预设阈值后再切换基,避免低计数投影拉高整体不确定度。重构完成后,应同时报告保真度点估计与由泊松噪声传播得到的置信区间,仅给出一个 0.93 而不说明不确定度,无法支撑光源质量的严格比较。

常见误区:把 QST 重构出的密度矩阵直接当作“真实态”而忽略其统计涨落。在单投影计数仅数百次时,保真度的统计不确定度可达 ±0.03 以上,此时两个保真度 0.93 与 0.95 的光源在统计上可能无法区分。评估报告应明确计数水平与置信区间。