2. 光子源与单光子制备
单光子干涉实验的第一步,是获得“足够像单光子”的光。这里的“单光子”并不是指某个绝对只含一个光子的理想态,而是指在探测时间窗内,光子数统计接近 Fock 态 |1⟩、二阶关联函数 g⁽²⁾(0) 明显低于 0.5、且光子间具有高度不可区分性的光源。制备路线不同,纯度、亮度、不可区分性与工程复杂度也各不相同。本节围绕自发参量下转换、量子点单光子源、衰减激光源三条主流路线,以及光子数分辨探测与单光子纯度表征方法展开。
一、三条主流单光子源路线
自发参量下转换(SPDC)。在非线性晶体(如 BBO、PPKTP)中,一束泵浦光以频率 ω_p 入射,以极小概率分裂为信号光 ω_s 与闲频光 ω_i,满足 ω_p = ω_s + ω_i 与动量守恒。由于光子成对产生,探测到闲频光子即可“宣告”信号光路上存在一个光子,这就是预报式单光子源(heralded single-photon source)。其优点是可在室温工作、波长可通过相位匹配灵活设计;缺点是产生是概率性的,且多对产生会引入高阶光子数污染。典型实验中,若每脉冲平均光子对数为 μ,则零对概率约 e^(−μ),一对概率约 μe^(−μ),两对概率约 μ²e^(−μ)/2。为压低 g⁽²⁾(0),常把 μ 控制在 0.01~0.1 量级,代价是预报率下降。
量子点单光子源。半导体量子点(如 InAs/GaAs)具有类原子的分立能级,激子复合时发射单个光子,天然具备“一次只发一个”的特性。它属于确定性单光子源,g⁽²⁾(0) 可低至 10⁻² 以下,且通过共振荧光激发可获得高不可区分度。工程难点在于:需要低温(通常 4~10 K)、发射波长与光纤/原子跃迁匹配需精细调控、以及从激发态到单光子发射的收集效率。实际系统常配合微腔或固体浸没透镜提升收集效率。
衰减激光源。将连续或脉冲激光衰减到平均光子数 μ ≪ 1,使每个脉冲中“有光子”的概率很小。它实现简单、成本低,但光子数服从泊松分布:P(n) = μⁿe^(−μ)/n!。即使 μ = 0.1,仍有约 0.5% 的脉冲含两个及以上光子,因此 g⁽²⁾(0) = 1,无法通过二阶关联测量证明单光子性。它只适合对单光子纯度要求不高的演示或校准场景。
二、光子数分辨探测
判断光源是否“单光子”,需要能区分“一个光子”和“两个光子”的探测能力。传统单光子探测器(SPAD)只能给出“有/无”响应,无法分辨光子数。光子数分辨探测器(PNR)则通过时间复用、空间复用或超导纳米线阵列实现:
- 时间复用:用光纤延迟线把同一脉冲分成多个时间片,分别送入 SPAD,统计各时间片的响应组合,反推入射光子数。
- 空间复用:用分束器阵列把光分成多路,各路同时探测,根据同时响应的路数判断光子数。
- 超导纳米线阵列:多根纳米线并联,光子数越多,被触发的纳米线越多,可直接输出光子数信息。
在实验中,PNR 的价值在于:它能把“预报到单光子”与“预报到多光子”的事件区分开,从而在符合计数中剔除多光子污染,提升单光子纯度。
三、单光子纯度表征方法
最核心的表征量是二阶关联函数 g⁽²⁾(τ)。对于脉冲光源,常用 Hanbury Brown–Twiss(HBT)装置:将光分成两路送入两个探测器,测量两路同时响应的符合计数。定义 g⁽²⁾(0) = P(2)/[P(1)]²,其中 P(1)、P(2) 分别为单光子、双光子概率。若 g⁽²⁾(0) < 0.5,则判定为单光子源;理想单光子源 g⁽²⁾(0) = 0。
实际测量中,还需关注:
- 时间分辨:用时间相关单光子计数(TCSPC)记录两路探测的时间差直方图,中心峰面积与边峰面积之比即为 g⁽²⁾(0)。
- 背景扣除:暗计数、环境光会抬高符合计数,需先测背景再扣除。
- 不可区分性:用 Hong-Ou-Mandel(HOM)干涉测量两个独立光子间的干涉可见度,可见度越高,光子越不可区分。
四、三条路线的对比与选择
| 路线 | g⁽²⁾(0) | 确定性 | 工作条件 | 典型用途 |
|---|---|---|---|---|
| SPDC 预报源 | 10⁻³~10⁻² | 概率性 | 室温 | 量子干涉、纠缠分发 |
| 量子点 | <10⁻² | 确定性 | 低温 | 高纯度单光子、按需源 |
| 衰减激光 | ≈1 | 泊松 | 室温 | 校准、演示 |
选择哪条路线,取决于实验对纯度、速率、不可区分性和工程条件的综合要求。若追求高纯度与确定性,量子点是首选;若追求波长灵活与室温运行,SPDC 预报源更实用;衰减激光则仅适合作为对照或校准。
综上,单光子制备的核心逻辑是:先根据实验需求选择合适的光子源路线,再用光子数分辨探测剔除多光子事件,最后通过 HBT 测量 g⁽²⁾(0) 与 HOM 测量不可区分性来验证单光子纯度。三条路线各有取舍,理解其物理机制与表征方法,是后续干涉实验可靠性的基础。