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车规级芯片可靠性验证与失效分析

共计 30 章节
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01
车规芯片概述
什么是车规级芯片 · 车规与消费级/工业级的区别 · AEC-Q系列标准简介
车规芯片概述什么是车规级芯片
02
可靠性物理基础
失效物理与可靠性模型 · 浴盆曲线与寿命分布 · 加速因子与Arrhenius模型
可靠性物理基础失效物理
03
晶圆级可靠性验证
TDDB（经时击穿） · HCI（热载流子注入） · NBTI/PBTI（负/正偏压温度不…
晶圆级可靠性验证TDDB
04
封装级可靠性验证
温度循环（TCT） · 温湿度偏置（THB/HAST） · 高加速应力测试（HAST/uHAST…
封装级可靠性验证TCT
05
ESD与LU验证
HBM/CDM模型 · 闩锁效应（Latch-Up）测试 · IEC 61000-4-2标准
ESDLU
06
寿命与耐久性验证
高温工作寿命（HTOL） · 早期寿命失效（ELFR） · 非易失性存储器耐久性
寿命耐久性验证
07
环境与机械应力验证
机械冲击与振动 · 跌落测试 · 热冲击（TST）
环境机械应力验证
08
失效分析技术概述
失效分析流程 · 非破坏性分析（X-ray · SAM
失效分析技术概述失效分析流程
09
热点定位与故障隔离
红外热成像（IR Thermogra… · 光子发射显微镜（PEM） · 激光诱导阻抗变化（OBIRCH/TI…
热点定位故障隔离
10
物理失效分析
SEM/EDX元素分析 · FIB截面与电路修补 · TEM高分辨分析
物理失效分析SEM/EDX
11
电性失效分析
IV曲线特性分析 · 参数漂移分析 · 噪声分析
电性失效分析IV
12
车规芯片设计可靠性
设计规则检查（DRC） · 天线效应与修复 · 冗余设计（Redundancy）
车规芯片设计可靠…DRC
13
工艺可靠性监控
在线良率监控（CP/FT） · 工艺波动与SPC · 缺陷密度与良率模型
工艺可靠性监控CP/FT
14
车规芯片测试策略
三温测试（Cold/Room/Hot… · IDDQ测试 · 扫描链与BIST
车规芯片测试策略Cold/Room/Ho…
15
功能安全与可靠性
ISO 26262 ASIL等级 · 故障模式与影响分析（FMEA） · 故障树分析（FTA）
功能安全可靠性
16
AEC-Q100详细解读
AEC-Q100测试分组 · Group A（加速环境应力） · Group B（寿命/耐久性）
AEC-Q100详细解读
17
AEC-Q101与Q104
AEC-Q101（分立半导体） · AEC-Q104（MEMS） · 车规被动元件可靠性
AEC-Q101Q104
18
车规芯片失效模式
ESD/EOS失效 · 电迁移失效 · 应力迁移失效
车规芯片失效模式ESD/EOS
19
失效分析案例1
电源管理芯片短路失效分析 · MCU时钟失效分析 · CAN收发器闩锁失效分析
失效分析案例1电源管理芯片短路…
20
失效分析案例2
存储器数据保持失效分析 · 传感器漂移失效分析 · 功率器件热疲劳失效分析
失效分析案例2存储器数据保持失…
21
车规芯片可靠性仿真
热仿真与热管理 · 应力仿真与翘曲分析 · 电迁移仿真
车规芯片可靠性仿…热仿真
22
可靠性数据统计
威布尔分布与拟合 · 置信区间与样本量 · 加速寿命试验设计
可靠性数据统计威布尔分布
23
车规芯片认证流程
AEC认证流程 · PPAP与PSW · IMDS与材料声明
车规芯片认证流程AEC
24
车规芯片供应链可靠性
晶圆厂可靠性监控 · 封测厂可靠性管理 · 车规芯片追溯系统
车规芯片供应链可…晶圆厂可靠性监控
25
车规芯片可靠性趋势
宽禁带半导体（SiC/GaN）可靠性 · Chiplet与先进封装可靠性 · 车规AI芯片可靠性
车规芯片可靠性趋…SiC/GaN
26
车规芯片失效分析实验室建设
实验室设备选型 · ESD防护与洁净室 · 实验室安全规范
车规芯片失效分析…实验室设备选型
27
车规芯片可靠性标准更新
AEC-Q100 Rev-H解读 · ISO 26262第二版更新 · IATF 16949与可靠性
车规芯片可靠性标…AEC-Q100
28
车规芯片可靠性项目管理
可靠性计划制定 · 可靠性评审节点 · 供应商可靠性管理
车规芯片可靠性项…可靠性计划制定
29
车规芯片可靠性前沿技术
机器学习在可靠性预测中的应用 · 数字孪生与可靠性 · 在线健康监测（PHM）
车规芯片可靠性前…机器学习
30
综合案例
车规MCU全流程可靠性验证方案 · 车规PMIC失效分析实战 · 车规SiC MOSFET可靠性评估
综合案例MCU