01
DFT基础概念
什么是DFT · 为什么需要DFT · DFT在芯片设计中的位置
入门核心
02
扫描链原理
扫描链基本结构 · 扫描模式与功能模式 · 插入流程
结构必学
03
ATPG基础
ATPG概念 · 故障模型(Stuck-at, Transition) · 工具入门
测试模式
04
扫描链调试入门
失效常见症状 · 诊断数据收集 · 初步分析方法
调试基础
05
扫描链诊断数据解析
Shift/Capture Fail区别 · Pattern Log解读 · Shmoo图
分析数据
06
扫描链短路与断路定位
诊断工具定位 · 物理坐标映射 · 案例分析
物理案例
07
时钟域与扫描链问题
跨时钟域 · Clock Gating · Clock Skew影响
时钟进阶
08
低功耗DFT调试
Power Gating · MTCMOS隔离 · 低功耗测试挑战
低功耗调试
09
存储器BIST调试
MBIST架构 · BIST Fail诊断 · Repair分析与优化
存储器BIST
10
Logic BIST调试
LBIST架构 · 伪随机/确定性模式 · Fail诊断
LBIST诊断
11
边界扫描与JTAG调试
JTAG协议 · 边界扫描链 · TAP控制器问题
JTAG接口
12
ATE测试与DFT联动
ATE模式设置 · Fail Log关联 · 波形调试
ATE实战
13
诊断分辨率提升
Chain/Cell Diagnosis · 影响因素 · 提高方法
分辨率优化
14
物理失效分析(PFA)引导
从诊断到PFA · 热点定位 · FIB与探针
PFA物理
15
良率学习与DFT
良率根因 · Volume Diagnosis · 良率学习循环
良率大数据
16
DFT设计规则检查(DRC)
DRC规则详解 · 常见Violation · 工具使用
DRC检查
17
测试点插入与调试
测试点类型 · 插入策略 · 对诊断影响
测试点可测性
18
片上压缩技术调试
XOR/MISR压缩 · 压缩诊断挑战
压缩进阶
19
时序感知ATPG与调试
Transition Delay · Small Delay · 时序诊断
时序ATPG
20
DFT与功能安全
ISO 26262 · 安全机制 · 故障注入测试
功能安全车规
21
DFT脚本自动化
Tcl脚本应用 · 自动化诊断 · 数据解析
脚本效率
22
EDA工具链实战
Tessent/DFTCompiler · 工具间数据传递
EDA工具
23
大规模SoC DFT调试
多时钟/电压/IP核协调调试
SoC复杂
24
3D IC与DFT调试
TSV测试 · 堆叠芯片 · Interposer测试
3D先进封装
25
AI/ML在DFT诊断中的应用
机器学习故障分类 · 大数据诊断 · 智能流程
AI前沿
26
DFT Debug Case Study 1
扫描链短路导致良率骤降 · 完整调试案例
案例短路
27
DFT Debug Case Study 2
存储器BIST修复失败 · 深度分析案例
案例BIST
28
DFT Debug Case Study 3
跨时钟域扫描链时序问题调试案例
案例时钟
29
DFT Debug Case Study 4
低功耗模式下测试覆盖率不足调试案例
案例低功耗
30
DFT Debug Case Study 5
ATE测试与DFT诊断不一致 · 复杂调试案例
案例ATE