01
DFT基础概念
什么是DFT，为什么需要DFT，DFT在芯片设计流程中的位置。
基础概念
02
扫描链（Scan Chain）原理
扫描链的结构、工作模式（shift/capture）、扫描触发器类型。
扫描原理
03
扫描链设计避坑
时钟域交叉问题、扫描使能信号扇出、扫描链平衡。
避坑时钟域
04
ATPG基础
ATPG原理、故障模型（stuck-at、transition delay）、测试覆盖率。
ATPG故障
05
ATPG用例编写
测试激励生成、测试响应压缩、X态处理。
用例压缩
06
边界扫描（JTAG）
IEEE 1149.1标准、TAP控制器、指令寄存器。
JTAG标准
07
JTAG用例编写
BSDL文件解析、边界扫描链配置、测试访问端口设计。
BSDL配置
08
MBIST基础
存储器测试原理、March算法、BIST控制器结构。
存储器BIST
09
MBIST用例编写
存储器分组策略、测试时钟控制、故障诊断。
分组诊断
10
逻辑BIST（LBIST）
伪随机测试、确定性测试、STUMPS架构。
LBISTSTUMPS
11
LBIST用例编写
种子选择、测试周期规划、覆盖率分析。
种子覆盖率
12
测试压缩技术
XOR压缩、MISR、EDT（嵌入式确定性测试）。
压缩EDT
13
压缩用例编写
解压器配置、通道分配、压缩率与覆盖率权衡。
解压权衡
14
时钟门控测试
时钟门控单元测试、使能信号测试、低功耗模式测试。
门控低功耗
15
异步电路测试
异步接口测试、同步器测试、亚稳态问题处理。
异步亚稳态
16
DFT时序约束
扫描时钟约束、扫描使能时序、保持时间修复。
时序约束
17
DFT仿真验证
仿真环境搭建、测试向量仿真、覆盖率收集。
仿真验证
18
DFT脚本自动化
Tcl脚本编写、流程自动化、回归测试。
Tcl自动化
19
DFT与物理设计
扫描链布局布线、时钟树综合对DFT的影响。
物理CTS
20
DFT与功耗
测试模式功耗、低功耗DFT技术、功耗分析。
功耗低功耗
21
DFT与良率
测试良率分析、冗余设计、修复策略。
良率修复
22
ATE测试
自动测试设备、测试程序开发、测试时间优化。
ATE程序
23
DFT调试技巧
扫描链调试、故障定位、诊断流程。
调试诊断
24
DFT文档规范
测试计划、测试报告、设计文档编写。
文档规范
25
DFT工具使用
TetraMAX、DFT Compiler、Tessent工具链。
工具Tessent
26
DFT项目实战
项目规划、团队协作、里程碑管理。
实战管理
27
DFT新技术
机器学习在DFT中的应用、自适应测试、3D IC测试。
ML3D IC
28
DFT常见错误
扫描链插入错误、ATPG冲突、仿真不匹配。
错误避坑
29
DFT面试题解析
高频面试题、项目经验分享、职业发展建议。
面试职业
30
DFT综合案例
从RTL到ATE测试的完整流程、案例复盘、经验总结。
综合复盘