VIP20
本课程属于：198-AMD Versal异构计算与高速系统工程 芯片硬件与光电工程 · 共 20 门相关课程，组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录 咨询 / 购买

AMD Versal量产测试与可靠性验证

共计 30 章节
可可资料掘金营 · 点击在线试看
01
Versal架构与量产测试概览
目标=ACAP异构架构 · 量产测试流程 · 可靠性验证目标与挑战
Versal架构
02
Versal器件选型与测试需求分析
目标=器件系列 · 封装类型 · 温度等级
Versal器件选型
03
量产测试硬件平台搭建
目标=ATE测试机选型 · DIB设计 · 电源与信号完整性考虑
量产测试硬件平台…ATE
04
Versal配置与启动测试
目标=启动模式 · 配置接口 · 配置时间优化与故障排查
Versal配置
05
可测试性设计（DFT）在Versal中的实现
目标=扫描链 · 边界扫描 · 内建自测试（BIST）策略
DFTVersal
06
Versal电源与功耗测试
目标=电源域划分 · 功耗测量方法 · 动态功耗管理与测试
Versal电源
07
高速接口测试
目标=PCIe · 以太网 · DDR内存接口的测试方法与挑战
高速接口测试PCIe
08
AI引擎与DSP模块测试
目标=AI引擎架构 · DSP48E2测试向量生成与结果分析
AIDSP
09
可编程逻辑资源测试
目标=LUT · FF · BRAM
可编程逻辑资源测…LUT
10
时钟与复位测试
目标=时钟网络 · PLL · MMCM测试
时钟复位测试
11
温度与电压特性测试
目标=PVT变化对性能的影响 · 测试条件设定与数据采集
温度电压特性测试
12
量产测试程序开发
目标=测试流程设计 · 测试向量生成 · 测试程序调试与优化
量产测试程序开发目标=测试流程设…
13
测试覆盖率分析与提升
目标=故障模型 · 覆盖率指标 · 测试向量优化方法
测试覆盖率分析提升
14
量产测试中的良率分析
目标=良率统计 · 失效模式分析 · 良率提升策略
量产测试良率分析
15
可靠性验证基础
目标=可靠性指标 · 失效机理 · 加速寿命试验设计
可靠性验证基础目标=可靠性指标
16
HTOL与LTOL测试
目标=高温工作寿命测试 · 低温工作寿命测试方案与实施
HTOLLTOL
17
温度循环与热冲击测试
目标=测试条件 · 失效分析 · 改善措施
温度循环热冲击测试
18
湿热与腐蚀测试
目标=温湿度偏压测试 · 腐蚀失效机理与防护
湿热腐蚀测试
19
ESD与闩锁测试
目标=ESD模型 · 测试标准 · 闩锁测试与防护设计
ESD闩锁测试
20
老化与筛选测试
目标=老化板设计 · 老化条件 · 筛选效率评估
老化筛选测试
21
系统级可靠性验证
目标=板级可靠性 · 系统级测试 · 故障注入与容错
系统级可靠性验证目标=板级可靠性
22
量产测试数据分析与统计过程控制
目标=SPC方法 · 数据可视化 · 异常检测
量产测试数据分析统计过程控制
23
测试成本优化
目标=测试时间压缩 · 并行测试 · 测试资源调度
测试成本优化目标=测试时间压…
24
量产测试中的自动化与智能化
目标=自动化测试脚本 · 机器学习在测试中的应用
量产测试自动化
25
Versal安全启动与安全测试
目标=安全启动流程 · 加密引擎测试 · 防篡改验证
Versal安全启动
26
量产测试中的故障诊断与定位
目标=诊断方法 · 失效分析工具 · 案例研究
量产测试故障诊断
27
可靠性验证中的失效分析技术
目标=FIB · SEM · EMMI
可靠性验证失效分析技术
28
量产测试标准与规范
目标=JEDEC · AEC-Q · ISO 26262等标准解读与合规
量产测试标准规范
29
量产测试与可靠性验证实战案例
目标=典型问题解决 · 经验分享 · 最佳实践
量产测试可靠性验证实战案…
30
未来趋势与挑战
目标=Chiplet · 3D封装 · AI加速对测试与可靠性的影响
未来趋势挑战