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010-半导体测试、ATE与量产工程

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7门 系列课程
芯片硬件与光电工程 所属方向
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01
《BIST与ATE联合测试架构及故障诊断》
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02
《FT测试程序开发与ATE平台参数设计、配置与系统调试》
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03
《FT量产测试流程优化与封装后可靠性验证》
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04
《IEEE 1149.1边界扫描在ATE量产测试中的部署》
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05
《STDF测试数据解析、Bin分析与量产监控自动化》
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06
《半导体ATE测试程序开发与量产调试实战100例》
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07
《探针卡接触电阻异常与CP良率漂移定位、测试覆盖与量产优化》
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