VIP7

本课程属于：010-半导体测试、ATE与量产工程 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。

查看所属VIP全部课程 →

← 返回所属目录咨询 / 购买

FT测试程序开发与ATE平台参数配置技巧

共计 30 章节

点击此处阅读海量试读课程：100+行业、1000+细分领域

FT测试的定义 · 目的与在半导体制造流程中的位置

ATE平台基础

主流ATE平台（如Teradyne · Advantest · Chroma）架构与核心组件介绍

ATE平台基础

测试程序开发环境搭建

IDE安装 · 编译器配置 · 仿真器与调试器连接

测试程序开发环境…IDE

测试向量基础

向量格式（STIL/WGL） · 时序定义与向量生成方法

测试向量基础STIL/WGL

测试模式与Pattern

Functional Test · Scan Test · BIST的原理与实现

Pattern测试模式

电压 · 电流 · 漏电流测试的原理与程序实现

建立时间 · 保持时间 · 传播延迟等时序参数测试

PMU（精密测量单元）配置

Force Voltage/Meas…

PMU精密测量单元

DPS（Device Power Supply）配置

多路电源上电时序 · 电流钳位与电压精度设置

通道映射（Channel Map）

Pin与通道的物理映射 · 复用与分组策略

电平设置（Levels）

VIH/VIL/VOH/VOL及负载… · 电阻参数配置

Levels电平设置

时序设置（Timing）

周期 · 边沿位置 · 窗口

Timing时序设置

测试流程控制

Test Flow · Bin · Test Suite的组织与跳转逻辑

测试流程控制Test

测试程序架构设计

模块化编程 · 函数库封装与复用策略

测试程序架构设计模块化编程

参数化测试开发

使用变量 · 循环与条件语句实现灵活测试

参数化测试开发使用变量

数据采集与日志

测试结果实时采集 · 格式化输出与日志管理

数据采集日志

良率分析与调试

Shmoo图 · Bin Pareto · Fail Bitmap的生成与解读

良率分析调试

多工位并行测试

Multi-site测试原理 · 资源分配与同步机制

多工位并行测试Multi-site

校准与补偿

系统误差校准 · 温度补偿与电压降补偿方法

测试时间优化

并行测试 · 向量压缩 · 快速Datalogging技巧

测试时间优化并行测试

ATE平台参数配置技巧

寄存器级配置 · 宏定义与配置文件管理

ATE平台参数配置技巧

测试程序版本控制

Git/SVN在测试程序开发中的应用

测试程序版本控制Git/SVN

测试程序验证与仿真

离线仿真 · Golden Device验证与回归…

测试程序验证仿真

常见测试失效分析

接触不良 · 过压 · 时序冲突等问题的排查

常见测试失效分析接触不良

混合信号测试基础

ADC/DAC测试 · 信噪比与失真度测量

混合信号测试基础ADC/DAC

S参数 · 功率 · 频率与调制质量测试简介

存储器测试基础

MBIST · March算法与修复分析

存储器测试基础MBIST

ATE平台脚本自动化

Python/TCL脚本实现测试流程…

ATE平台脚本自动化

测试程序文档化

注释规范 · 用户手册与测试报告生成

测试程序文档化注释规范

FT测试发展趋势

AI辅助测试 · 云测试平台与大数据分析

FT测试发展趋势