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本课程属于：010-半导体测试、ATE与量产工程 芯片硬件与光电工程 · 共 7 门相关课程，组合学习更完整。
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STDF测试数据解析、Bin分析与量产监控自动化

共计 30 章节
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01
课程导入
目标=STDF测试数据解析 · Bin分析与量产监控自动化的学习目标 · 核心概念
课程导入STDF
02
STDF文件基础
目标=STDF标准概述 · 文件结构 · 记录类型
STDF文件基础
03
STDF核心记录解析
目标=FAR · ATR · MIR
STDF核心记录解析
04
测试数据解析环境搭建
目标=Python/C++/Java… · 常用STDF解析库 · 开发环境配置与最小可运行示例
测试数据解析环境…Python/C++/J…
05
STDF解析实战一
目标=读取单个STDF文件 · 提取Wafer ID · Lot ID
STDF解析实战一
06
STDF解析实战二
目标=解析PIR/PRR/PTR/M… · 构建Die级测试结果数据表与测试项明…
STDF解析实战二
07
STDF解析实战三
目标=处理多Site · 多Test · 多Bin
STDF解析实战三
08
异常STDF处理
目标=文件损坏 · 记录缺失 · 字段越界
STDF异常
09
Bin概念与分类
目标=Hard Bin · Soft Bin · Bin Code
Bin概念
10
Bin数据提取与统计
目标=从STDF中提取Hard Bi… · 按Wafer/Lot/Die统计 · 生成Bin Summary与Bin…
Bin数据提取
11
Bin分析与良率计算
目标=First Pass Yiel… · Final Yield · Bin Yield
Bin分析
12
Bin Map可视化
目标=Wafer Map绘制 · Bin颜色映射 · Edge Die标注
BinMap
13
量产监控指标体系
目标=良率 · Bin占比 · CPK
量产监控指标体系目标=良率
14
量产监控数据管道
目标=从STDF采集 · 解析 · 清洗
量产监控数据管道STDF
15
自动化监控脚本实战
目标=定时扫描STDF目录 · 增量解析 · 异常检测
自动化监控脚本实…STDF
16
数据库与存储设计
目标=MySQL/PostgreSQ… · 表结构设计 · 索引优化与历史数据归档
数据库存储设计
17
SPC与统计过程控制
目标=控制图 · Western Electric规则 · Cpk/Ppk
SPC统计过程控制
18
机器学习辅助分析
目标=异常检测 · Bin预测 · 良率预测
机器学习辅助分析目标=异常检测
19
案例实战一
目标=某芯片CP测试STDF解析 · Bin统计 · Wafer Map生成与良率日报自动…
案例实战一CP
20
案例实战二
目标=FT测试多Site数据解析 · Site间差异分析 · Bin偏移监控与告警系统搭建
案例实战二FT
21
案例实战三
目标=量产阶段良率骤降排查 · 结合Bin分析 · 测试项分布
案例实战三目标=量产阶段良…
22
常见问题与排错
目标=STDF版本兼容 · 字段解析错误 · Bin定义不一致
常见问题排错
23
性能优化与工程化
目标=并行解析 · 流式处理 · 缓存机制
性能优化工程化
24
可视化与报表
目标=Dashboard设计 · Plotly/Dash/Grafan… · 交互式Wafer Map与自动报告生…
可视化报表
25
数据质量与治理
目标=数据一致性校验 · 缺失值处理 · 重复数据去重
数据质量治理
26
系统集成与接口
目标=与MES · YMS · EDA
系统集成接口
27
综合项目一
目标=设计并实现一个STDF解析与B… · 支持多文件 · 多Lot
综合项目一STDF
28
综合项目二
目标=搭建量产监控自动化平台 · 包含数据采集 · 指标计算
综合项目二目标=搭建量产监…
29
综合项目三
目标=基于历史STDF数据构建良率预… · 并完成离线评估与在线部署方案
综合项目三STDF
30
课程总结与进阶
目标=知识体系回顾 · 最佳实践 · 常见陷阱
课程总结进阶