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《嵌入式AI芯片量产测试解决方案实战》
所属分类:AI大模型与智能应用
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嵌入式AI芯片量产测试解决方案实战
共计 30 章节
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01
课程导入
嵌入式AI芯片量产测试的背景 · 挑战 · 学习目标与课程整体框架
课程导入
AI
02
嵌入式AI芯片基础
AI芯片架构(NPU · GPU · DSP)
AI
嵌入式
03
量产测试基础概念
良率 · 缺陷 · 故障模型
量产测试基础概念
良率
04
测试类型与流程
晶圆测试(CP) · 成品测试(FT) · 系统级测试(SLT)的流程与区别
测试类型
流程
05
嵌入式AI芯片测试标准与规范
JEDEC · IEEE 1149.1 · IEEE 1500
AI
嵌入式
06
测试设备与硬件
ATE(自动测试设备) · 探针台 · 分选机
测试设备
硬件
07
测试程序开发
基于ATE的测试程序架构 · 开发流程 · 调试方法及代码优化技巧
测试程序开发
ATE
08
AI芯片数字测试技术
逻辑测试 · 扫描链测试 · BIST(内建自测试)
AI
芯片数字测试技术
09
AI芯片模拟与混合信号测试
ADC/DAC · 电源管理 · 时钟
AI
芯片模拟
10
AI芯片高速接口测试
PCIe · USB · MIPI
AI
芯片高速接口测试
11
AI芯片功能测试
针对NPU · GPU等AI计算单元的指令集测试 · 算子级测试
AI
芯片功能测试
12
AI性能与精度测试
TOPS · FPS · 功耗
AI
性能
13
量产测试中的DFT设计
可测试性设计(DFT)基础 · 扫描链插入 · BIST
DFT
量产测试
14
测试向量生成与压缩
ATPG生成 · 向量压缩 · 测试数据量优化
测试向量生成
压缩
15
测试良率分析与提升
良率模型 · 缺陷定位 · 失效分析(FA)
测试良率分析
提升
16
测试数据管理与分析
测试数据采集 · 数据库管理 · SPC(统计过程控制)
测试数据管理
分析
17
量产测试中的可靠性测试
HTOL · ESD · Latch-up
量产测试
可靠性测试
18
嵌入式AI芯片的功耗测试
动态功耗 · 漏电功耗 · 功耗管理测试
AI
嵌入式
19
量产测试中的热管理
热阻 · 结温 · 热循环测试
量产测试
热管理
20
测试治具与自动化
测试夹具设计 · 自动化测试设备集成 · 机器人上下料
测试治具
自动化
21
量产测试中的软件与工具链
测试操作系统 · 测试脚本语言(如Python) · 测试管理工具
量产测试
软件
22
案例实战
基于某款嵌入式AI芯片的CP测试开发…
案例实战
AI
23
案例实战
基于某款嵌入式AI芯片的FT测试开发… · 测试程序 · 调试)
案例实战
AI
24
案例实战
AI芯片SLT测试方案设计 · 包括系统级测试场景 · 测试用例开发与执行
案例实战
AI
25
案例实战
量产测试中的良率提升实战 · 通过数据分析定位测试问题并优化
案例实战
量产测试
26
常见问题与解决
测试不稳定 · 误测 · 漏测
常见问题
解决
27
测试成本优化
测试时间压缩 · 并行测试 · 多站点测试
测试成本优化
测试时间压缩
28
新兴测试技术
基于机器学习的测试优化 · 自适应测试 · 大数据驱动的测试预测等前沿方向
新兴测试技术
基于机器学习的测…
29
综合项目实战
从零构建一个嵌入式AI芯片量产测试方… · 包括硬件 · 软件
综合项目实战
AI
30
课程总结与进阶路径
核心知识回顾 · 常见误区 · 学习资源推荐
课程总结
进阶路径
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