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SOI器件SPICE建模：模型验证与故障调试

共计 30 章节

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SOI技术概述

SOI（Silicon-On-Ins… · 与体硅CMOS的对比优势 · SOI器件的分类（PD-SOI与FD…

SOI技术概述

SPICE建模基础

SPICE仿真器简介 · 半导体器件模型分类（物理基模型 · 经验模型

SPICE建模基础

BSIM-SOI模型家族

BSIM3SOI · BSIM4SOI · BSIM-IMG模型的发展历程

BSIM-SOI模型家族

SOI器件物理机制

浮体效应（Floating Body… · 自加热效应（Self-Heating… · Kink效应

SOI器件物理机制

模型参数提取流程

参数提取方法论概述 · 全局优化与局部优化策略 · 参数提取工具（ICCAP

模型参数提取流程参数提取方法论概…

直流特性建模（I-V）

阈值电压模型 · 迁移率退化模型 · 输出电导模型

I-V直流特性建模

交流与小信号建模（C-V & RF）

本征电容模型 · 栅电阻模型 · 源/漏寄生参数提取

闪烁噪声（1/f噪声） · 热噪声 · 散粒噪声在SOI器件中的建模方法及参…

噪声模型闪烁噪声

温度效应与自加热建模

自加热子电路网络（RC热网络） · 温度依赖参数（TC1 · TC2）

温度效应自加热建模

浮体效应建模

浮体电位方程 · 体区产生/复合电流模型 · 冲击电离电流模型

浮体效应建模浮体电位方程

历史效应与AC行为

历史效应（History Depen… · AC小信号下的体区响应 · 模型参数对历史效应的影响

PD-SOI模型验证案例

18μm PD-SOI工艺的直流I-… · 跨导（gm）与输出电导（gds）拟合 · 模型误差分析

PD-SOI模型验证案例

FD-SOI模型验证案例

28nm FD-SOI工艺的阈值电压… · DIBL效应拟合 · 背栅偏置效应建模验证

FD-SOI模型验证案例

SOI MOSFET的击穿特性建模

源漏击穿（BVds） · 栅氧击穿（BVox） · 结击穿模型在SOI中的实现与校准

SOI器件匹配特性建模

失配模型（Pelgrom模型） · 几何尺寸对匹配的影响 · 蒙特卡洛仿真在SOI建模中的应用

SOI器件匹配特性建模

SOI工艺角模型（Corner Model）

TT/FF/SS/FS/SF工艺角定… · 全局波动与局部波动分离 · 工艺角模型生成流程

SOI器件统计建模

统计模型方法论（PCA · MVA） · 参数相关性分析

SOI器件统计建模

SOI RF开关建模

SOI RF开关的堆叠结构 · Ron与Coff的折中 · 大信号谐波仿真与模型验证

SOI LNA（低噪声放大器）建模

噪声系数（NF）仿真 · 增益与线性度（IIP3）建模 · 模型在LNA设计中的调试

SOI功率放大器建模

负载牵引（Load-Pull）仿真 · 效率与线性度折中 · 自加热对PA性能的影响建模

SOI功率放大器建模

SOI数字电路建模

反相器链的传播延迟仿真 · 浮体效应对时序的影响 · 历史效应在数字电路中的表现

SOI数字电路建模

静态噪声容限（SNM）仿真 · 读/写稳定性分析 · 浮体效应对SRAM稳定性的影响

SOI模拟电路建模

电流镜 · 差分对 · 运算放大器的SOI模型验证

SOI模拟电路建模

模型参数敏感性分析

局部灵敏度与全局灵敏度分析方法 · 关键参数识别（如TOX · LINT

模型参数敏感性分…局部灵敏度

模型收敛性问题调试

SPICE仿真不收敛的常见原因（初始… · 参数突变 · 模型不连续性）

模型收敛性问题调…SPICE

模型参数物理一致性检查

参数物理范围约束 · 跨工艺角参数连续性检查 · 参数相关性验证（如Vth与Tox）

模型参数物理一致…参数物理范围约束

SOI模型与测量数据对标

测量数据预处理（去嵌 · 平滑） · 模型拟合优度评估（RMSE

SOI模型在PDK中的集成

模型文件格式（.lib · .scs · .mdl）

SOI建模前沿技术

机器学习辅助参数提取 · 紧凑模型自动校准 · 面向先进节点（7nm/5nm）的SO…

SOI建模前沿技术

综合工程案例调试

一个完整的SOI RF开关设计-建模… · 从参数提取到电路仿真通过的全链路演示

综合工程案例调试SOI