首页
›
半导体工艺与制造设备
›
001-半导体器件SPICE建模
›
《BSIM4模型参数提取:沟道长度调制与DIBL效应拟合》
VIP20
本课程属于:001-半导体器件SPICE建模
半导体工艺与制造设备 · 共 20 门相关课程,组合学习更完整。
查看所属VIP全部课程 →
← 返回所属目录
咨询 / 购买
BSIM4模型参数提取:沟道长度调制与DIBL效应拟合
共计 30 章节
点击此处阅读海量试读课程:100+行业、1000+细分领域
01
BSIM4模型概述
BSIM4模型发展历史 · 核心物理机制 · 在先进CMOS工艺中的重要性
BSIM4
模型概述
02
沟道长度调制效应(CLM)物理原理
耗尽层近似 · 夹断点移动 · 有效沟道长度缩短机制
CLM
沟道长度调制效应
03
DIBL效应物理原理
漏极势垒降低 · 阈值电压漂移 · 短沟道器件中的二维静电效应
DIBL
效应物理原理
04
BSIM4中CLM与DIBL相关模型参数总览
PCLM · PDIBL1 · PDIBL2
BSIM4
CLM
05
参数提取流程概述
从测量数据到模型卡生成的标准工业流程
参数提取流程概述
从测量数据到模型…
06
测试结构设计
用于CLM与DIBL提取的专用测试结… · 不同偏置条件)
测试结构设计
CLM
07
测量数据采集
Id-Vd · Id-Vg曲线测量要点 · 开尔文测试
测量数据采集
Id-Vd
08
数据预处理
平滑滤波 · 数据对齐 · 剔除异常点
数据预处理
平滑滤波
09
线性区与饱和区划分
基于Vdsat的自动划分算法 · 跨导法确定饱和点
线性区
区划分
10
阈值电压Vth提取方法
恒定电流法 · 最大跨导法 · 线性外推法在短沟道器件中的适用性
Vth
阈值电压
11
DIBL系数提取
ΔVth/ΔVds斜率计算 · 双Vds线性回归法
DIBL
系数提取
12
输出电导Gds提取
数值微分法 · Gds-Vds曲线特征分析
Gds
输出电导
13
CLM效应参数PCLM提取
基于饱和区Gds-Vds曲线的非线性…
CLM
PCLM
14
DIBL效应参数PDIBL1与PDIBL2提取
多Vds下Vth漂移的二维拟合
DIBL
PDIBL1
15
DROUT参数提取
沟道长度调制对输出电阻影响的建模与拟…
DROUT
参数提取
16
PVAG参数提取
多栅压条件下DIBL效应的栅压依赖性…
PVAG
参数提取
17
全局优化策略
Levenberg-Marquard…
全局优化策略
Levenberg-Ma…
18
局部优化与参数去相关
避免参数耦合导致的非物理提取结果
局部优化
参数去相关
19
拟合优度评估
均方根误差(RMSE) · 相对误差 · 相关系数R²
拟合优度评估
RMSE
20
多沟道长度联合拟合
从长沟道到短沟道的统一参数提取策略
多沟道长度联合拟…
从长沟道到短沟道…
21
温度效应修正
CLM与DIBL参数的温度依赖性建模
温度效应修正
CLM
22
体偏置效应
衬底偏置对DIBL效应的影响及参数提…
体偏置效应
DIBL
23
模型卡生成
BSIM4模型卡语法 · 参数格式 · 模型等级设置
模型卡生成
BSIM4
24
SPICE仿真验证
将提取参数导入HSPICE/Spec…
SPICE
仿真验证
25
误差分析与迭代优化
基于仿真与测量残差的参数微调流程
误差分析
迭代优化
26
自动化提取脚本开发
Python+Scipy实现CLM/…
自动化提取脚本开…
Python+Scipy
27
工业级提取工具介绍
IC-CAP · MBP · MQA在BSIM4提取中的应用
工业级提取工具介…
IC-CAP
28
先进工艺挑战
FinFET/GAA中CLM与DIB…
先进工艺挑战
FinFET/GAA
29
案例实战1
28nm CMOS工艺CLM参数提取…
案例实战1
nm
30
案例实战2
7nm FinFET工艺DIBL效应…
案例实战2
nm
所属VIP或分类
同VIP:GaN-HEMT小信号建模:S参数提取与等效电路拟合
同VIP:GaN-HEMT建模:从器件物理到SPICE模型生成
同VIP:GaN-HEMT建模:参数优化算法与模型验证与故障调试