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SOI器件建模：PN结模型与噪声参数优化调试

共计 30 章节
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01
SOI技术概述
SOI材料结构 · SOI vs 体硅优势 · SOI器件应用领域
SOI技术概述
02
PN结物理基础
PN结形成原理 · 耗尽层 · 内建电势
PN结物理基础
03
PN结I-V特性
理想二极管方程 · 正向偏置 · 反向偏置
PNI-V
04
PN结电容模型
耗尽层电容 · 扩散电容 · C-V特性曲线
PN结电容模型
05
PN结小信号模型
交流等效电路 · 导纳参数 · 频率响应
PN结小信号模型
06
SOI MOSFET结构
部分耗尽(PD)与全耗尽(FD) S… · 埋氧层(BOX)作用
SOIMOSFET
07
SOI MOSFET阈值电压模型
背栅效应 · 体效应 · 短沟道效应修正
SOIMOSFET
08
SOI MOSFET I-V模型
BSIM-SOI模型基础 · 电流方程 · 输出特性
SOIMOSFET
09
SOI MOSFET电容模型
栅电容 · 交叠电容 · 寄生电容提取
SOIMOSFET
10
SOI器件寄生效应
浮体效应 · 自加热效应 · Kink效应
SOI器件寄生效应
11
PN结噪声基础
热噪声 · 散粒噪声 · 闪烁噪声(1/f噪声)物理起源
PN结噪声基础
12
PN结噪声模型
噪声等效电路 · 噪声电流源 · 噪声电压源
PN结噪声模型
13
SOI MOSFET噪声模型
沟道热噪声 · 感应栅噪声 · 闪烁噪声模型
SOIMOSFET
14
噪声参数定义
最小噪声系数(NFmin) · 最佳源阻抗 · 噪声电阻
噪声参数定义NFmin
15
噪声参数测量方法
冷源法 · 热源法 · 源牵引法原理
噪声参数测量方法冷源法
16
噪声参数提取算法
Lane算法 · Fukui算法 · 直接提取法
噪声参数提取算法Lane
17
SOI器件噪声参数优化
偏置点选择 · 几何尺寸优化 · 工艺参数影响
SOI器件噪声参数优化
18
PN结模型参数提取
正向I-V提取 · 反向C-V提取 · 串联电阻提取
PN结模型参数提取
19
模型参数优化算法
Levenberg-Marquard… · 遗传算法在建模中的应用
模型参数优化算法Levenberg-Ma…
20
SOI器件建模流程
数据测量 · 模型选择 · 参数提取
SOI器件建模流程
21
BSIM-SOI模型参数集
核心参数 · 寄生参数 · 噪声参数详解
BSIM-SOI模型参数集
22
模型验证方法
DC验证 · AC验证 · 噪声验证
模型验证方法DC
23
SOI器件高频建模
S参数 · Y参数转换 · 截止频率fT
SOI器件高频建模
24
噪声参数与高频参数关联
NFmin与fT关系 · 最佳源阻抗与输入阻抗匹配
噪声参数高频参数关联
25
工艺角模型
TT/FF/SS工艺角对PN结与噪声…
工艺角模型TT/FF/SS
26
温度效应建模
温度对I-V · C-V · 噪声参数的影响模型
温度效应建模I-V
27
SOI器件可靠性建模
热载流子效应 · 负偏置温度不稳定性(NBTI)对噪声…
SOI器件可靠性建模
28
模型库开发
Verilog-A实现PN结模型 · 噪声模型代码框架
模型库开发Verilog-A
29
优化调试实战
使用Python/Matlab进行参…
优化调试实战Python/Matla…
30
课程总结与前沿
SOI器件建模趋势 · 机器学习在建模中的应用展望
课程总结前沿