4. TFLN光波导基础与设计规则

薄膜铌酸锂(TFLN)光波导是整套PDK的物理底座。与硅光常用的220 nm SOI平台不同,TFLN通常是在SiO₂埋氧层上键合一层几百纳米厚的单晶铌酸锂薄膜,再通过刻蚀形成脊型或条型波导。由于LiNbO₃的折射率约为2.2(1550 nm,no),而包层SiO₂约1.44,折射率差并不像Si/SiO₂那样悬殊,因此TFLN波导的横向限制较弱,单模条件、弯曲半径和刻蚀深度之间的关系比硅光更敏感。本节围绕单模条件、弯曲损耗、侧壁角、宽度与刻蚀深度选择,以及PDK中波导元件的调用方式展开。

一、单模条件:从平板到脊型波导

判断单模,本质是判断波导在横向和纵向是否只支持一个基模。对TFLN脊型波导,常用等效折射率法(EIM)先做近似估算:把三维脊波导分解为横向平板波导与纵向等效平板波导,分别求TE₀、TE₁的截止条件。工程上更直接的做法是看两个量:薄膜厚度H和脊宽W。

以X切TFLN、H = 400 nm、刻蚀深度d = 200 nm(即脊高200 nm、平板残余200 nm)为例,在1550 nm波长下,当W从0.8 μm增大到1.6 μm时,基模TE₀始终存在,而一阶模TE₁的截止宽度大约在1.2~1.4 μm附近。也就是说,若希望单模工作,脊宽通常取0.8~1.2 μm较为稳妥;若取1.5 μm以上,则可能出现多模,导致模式竞争和弯曲处模式耦合。需要强调,这些数值是示例性估算,实际截止宽度会随刻蚀深度、侧壁角、包层材料和波长变化,必须以PDK给出的模式求解结果为准。

单模条件还可用归一化频率V近似判断:V = (2πW/λ)·√(ncore² − nclad²)。当V < π时,平板波导只支持基模。对上述参数,neff,core约2.0、neff,clad约1.6,代入可得W约1.0 μm时V接近2.4,仍小于π,属于单模区。这个估算可用于快速筛选,但最终仍需全矢量模式求解确认。

二、弯曲损耗与最小弯曲半径

弯曲损耗来自模式场向弯曲外侧的辐射泄漏。弯曲半径R越小,等效折射率分布倾斜越厉害,泄漏越强。TFLN由于折射率差较小,弯曲损耗对R的敏感度高于硅光。经验上,在1550 nm、单模脊宽1.0 μm、刻蚀深度200 nm条件下,R = 30 μm时弯曲损耗可能达到每90°约0.1~0.5 dB;R = 50 μm时可降到0.01 dB量级;R = 100 μm以上基本可忽略。因此PDK通常给出“最小弯曲半径”规则,例如Rmin = 50 μm(示例值),低于该值DRC会报错。

降低弯曲损耗的常用手段有三种:一是增大R;二是采用偏移弯曲(offset bend)或欧拉弯曲,使曲率沿路径渐变,减少模式失配;三是在弯曲段适当加宽波导,增强限制。但加宽会破坏单模条件,因此需在弯曲段与直波导之间做锥形过渡。

TFLN脊型波导截面与弯曲损耗关系示意 截面结构(X切,示例) SiO₂ 包层 LiNbO₃ 薄膜 H = 400 nm 脊区 d = 200 nm SiO₂ 埋氧层 Si 衬底 W = 1.0 μm H d 弯曲损耗 vs 弯曲半径(示例趋势) 弯曲半径 R (μm) 损耗 (dB/90°) R=20 R=40 R=60 R=100 R_min = 50 μm 侧壁角 θ 影响 θ θ≈75°~85° 为典型值

三、侧壁角的影响

刻蚀形成的脊侧壁并非垂直,而是带有一定倾角θ(侧壁与水平面夹角)。θ越接近90°,模式限制越强,但工艺难度越大;θ偏小(如70°)会使脊的有效宽度变窄,模式向平板区泄漏,导致有效折射率下降、弯曲损耗上升。对TFLN,典型侧壁角在75°~85°之间。PDK中通常把侧壁角作为工艺角(process corner)参数,在模式求解和DRC中体现。设计时若发现仿真与流片结果偏差较大,应优先检查侧壁角是否与PDK假设一致。

四、波导宽度与刻蚀深度选择

宽度W和刻蚀深度d共同决定模式限制和单模性。一般规律是:d越大(脊越高),横向限制越强,弯曲损耗越小,但单模宽度上限也越小;d越小,平板残余越厚,模式更容易泄漏到平板,弯曲损耗增大。工程上常见的折中是d = 150~250 nm、W = 0.8~1.2 μm。若需要更小的弯曲半径(如R = 30 μm),可适当增大d到250 nm并减小W到0.8 μm,但需重新确认单模。

下表给出一组示例性参数组合,用于说明选择逻辑,并非实测数据:

方案W (μm)d (nm)单模性R_min (μm)适用场景
A1.0200单模50通用互连、调制器
B0.8250单模30高密度弯曲
C1.4150可能多模80低损耗直波导

五、PDK中波导元件的调用

在PDK中,波导通常以参数化单元(PCell)形式提供,例如TFLN_WG_RIDGE,关键参数包括width、etch_depth、sidewall_angle、layer。调用时需注意:一是波导层号必须与流片层定义一致;二是弯曲半径不能小于PDK规定的R_min;三是不同宽度波导连接时需插入锥形(taper)过渡,锥长通常取5~20 μm。以下是一个示例性调用片段:

wg = TFLN_WG_RIDGE(
    width = 1.0,          # μm
    etch_depth = 0.2,     # μm
    sidewall_angle = 80,  # degree
    layer = "WG_CORE"
)
bend = wg.bend(radius = 50, angle = 90)
taper = wg.taper(width2 = 0.8, length = 10)
设计检查建议:完成版图后,先跑DRC确认最小弯曲半径、最小间距和锥形长度;再用PDK自带的模式求解器复核目标宽度下的单模性;最后用FDTD或EME抽一段弯曲和锥形,确认插损在预算内。

综上,TFLN波导设计规则的核心是:在单模约束下,通过宽度、刻蚀深度和侧壁角的组合,平衡限制强度与弯曲损耗,并严格遵循PDK的PCell参数和DRC规则。理解这些参数之间的耦合关系,是后续调制器、耦合器和无源器件设计的基础。