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光子技术_硅光与光通信工程
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005-硅光制造与异质集成光子工程
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《硅光缺陷检测与失效分析》
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本课程属于:005-硅光制造与异质集成光子工程
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硅光缺陷检测与失效分析
共计 30 章节
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01
硅光器件与失效分析导论
目标=硅光技术演进 · 典型器件(波导 · 调制器
硅光器件
失效分析导论
02
硅光缺陷类型全景
目标=点缺陷 · 线缺陷 · 面缺陷
硅光缺陷类型全景
目标=点缺陷
03
硅光失效模式与机理
目标=波导断裂 · 调制器暗电流升高 · 探测器响应度下降
硅光失效模式
机理
04
缺陷检测的物理基础
目标=光散射 · 吸收 · 折射率扰动
缺陷检测的物理基…
目标=光散射
05
光学检测方法总览
目标=暗场成像 · 明场成像 · 干涉测量
光学检测方法总览
目标=暗场成像
06
电子显微与成分分析
目标=SEM · TEM · STEM
电子显微
成分分析
07
扫描探针与表面分析
目标=AFM · KPFM · STM
扫描探针
表面分析
08
电学失效分析基础
目标=I-V · C-V · TLM
电学失效分析基础
I-V
09
光电器件联合测试
目标=波导损耗测试 · 调制效率测试 · 探测器暗电流与响应度测试
光电器件联合测试
目标=波导损耗测…
10
硅光芯片在线与离线检测流程
目标=晶圆级测试 · 切割后测试 · 封装后测试
硅光芯片
离线检测流程
11
无损检测与有损检测的权衡
目标=X射线 · 超声 · 红外热成像
无损检测
有损检测的权衡
12
缺陷定位与样品制备
目标=从宏观定位到微区定位 · FIB制样 · TEM薄片制备
缺陷定位
样品制备
13
硅光波导缺陷检测实战
目标=侧壁粗糙度 · 刻蚀残留 · 裂纹
硅光波导缺陷检测…
目标=侧壁粗糙度
14
硅光调制器失效分析实战
目标=PN结缺陷 · 掺杂异常 · 接触电阻退化
硅光调制器失效分…
PN
15
硅光探测器失效分析实战
目标=Ge/Si界面缺陷 · 暗电流热点 · 雪崩击穿异常
硅光探测器失效分…
Ge/Si
16
硅光耦合器与封装失效分析实战
目标=光栅耦合器 · 边缘耦合器 · 光纤阵列对准
硅光耦合器
封装失效分析实战
17
异质集成与混合集成缺陷
目标=III-V/Si键合界面 · 微转印 · 倒装焊
异质集成
混合集成缺陷
18
硅光芯片热失效分析
目标=热梯度 · 热应力 · 热循环疲劳
硅光芯片热失效分…
目标=热梯度
19
硅光器件老化与可靠性失效
目标=加速老化试验 · 高温高湿 · 温度循环
硅光器件老化
可靠性失效
20
统计缺陷分析与良率关联
目标=缺陷密度 · 泊松模型 · 良率预测
统计缺陷分析
良率关联
21
机器学习辅助缺陷检测
目标=图像分类 · 异常检测 · 缺陷分割
机器学习辅助缺陷…
目标=图像分类
22
检测数据管理与可追溯性
目标=数据采集 · 元数据标注 · 缺陷库构建
检测数据管理
可追溯性
23
失效分析案例一
目标=硅光调制器暗电流异常——从电学…
失效分析案例一
目标=硅光调制器…
24
失效分析案例二
目标=硅光探测器响应度下降——光学定… · 截面分析 · Ge/Si界面缺陷与工艺归因
失效分析案例二
目标=硅光探测器…
25
失效分析案例三
目标=硅光波导损耗超标——侧壁粗糙度 · 刻蚀残留 · 氧化层吸收的联合诊断与改进验证
失效分析案例三
目标=硅光波导损…
26
失效分析案例四
目标=封装后耦合损耗增大——热循环 · 胶层分层 · 光纤位移的失效树分析与纠正措施
失效分析案例四
目标=封装后耦合…
27
失效分析案例五
目标=晶圆级测试良率突降——缺陷聚类 · 设备漂移 · 工艺参数关联与快速根因定位
失效分析案例五
目标=晶圆级测试…
28
检测与失效分析标准、规范与安全
目标=SEMI标准 · JEDEC可靠性标准 · 实验室安全
检测
失效分析标准
29
检测方案设计与实战任务
目标=给定硅光器件失效现象 · 设计检测流程 · 选择工具
检测方案设计
实战任务
30
综合实战与课程总结
目标=完整失效分析项目模拟 · 报告撰写 · 评审答辩
综合实战
课程总结
所属VIP或分类
同VIP:III-V光电子器件与硅光平台集成
同VIP:PIC与EIC三维异质集成工程
同VIP:光子中介层与光电互连工程