2. 光源类型选择与打光方案设计

光源类型选择与打光方案设计 学习卡片

任务拆解:金属划痕在什么条件下才“看得见”

金属表面划痕检测的难点不在相机,而在划痕与背景的对比度。划痕本质是微小的凹凸形变,它本身不发光,只能通过改变反射方向被相机捕捉。因此打光方案的核心是:让划痕区域的反射光偏离相机光轴,而平整区域的光进入相机(或反之),形成明暗差异。

本例以一块拉丝铝合金样件(表面粗糙度 Ra≈0.8μm,存在宽 0.05~0.2mm、深 5~20μm 的横向划痕)为对象,对比三种光源的成像效果并给出选型依据。

三种光源的反射几何差异

判断光源是否适用,先看它的入射方向与相机接收方向的关系:

  • 环形光:以一定角度从四周斜射,平整表面将光反射到相机之外,视场偏暗;划痕的斜面把光“折”进相机,划痕呈亮线。适合检测凹坑、划痕、字符。
  • 条形光:单向低角度掠射,光几乎平行于表面。平整面几乎不反射,只有划痕边缘的陡坡产生散射亮线,对比度最高,但方向性强,只对垂直于光条的划痕敏感。
  • 同轴光:光经半透半反镜后垂直入射,平整镜面把光原路反射回相机,背景亮;划痕因倾斜把光偏折,呈暗线。适合高反光镜面,但拉丝面会因漫反射导致整体发灰。
三种光源对金属划痕的反射路径对比 环形光(斜射) 相机 入射光 入射光 平整金属面 划痕 平整面反射光偏离相机 划痕斜面反射光进入相机 成像效果 暗背景 + 亮划痕 条形光(低角度掠射) 相机 条形光 掠射光 平整金属面 划痕 平整面几乎不反射 划痕边缘散射进入相机 成像效果 极暗背景 + 高亮划痕 同轴光(垂直入射) 相机 半透半反镜 垂直入射 平整金属面 划痕 平整面原路反射回相机 划痕偏折光,不返回相机 成像效果 亮背景 + 暗划痕

选型判断:先看表面状态,再看划痕方向

三种光源没有绝对优劣,选型取决于两个变量:表面粗糙度和划痕走向。

光源适用表面划痕方向要求预期对比度本例适用性
环形光漫反射/半光泽无方向限制中等拉丝面漫反射强,对比度不足
条形光低粗糙度、可掠射需垂直于光条高横向划痕可用,需旋转验证
同轴光镜面/高反光无方向限制高(镜面)拉丝面整体发灰,不适用

本例样件为拉丝面,同轴光会因漫反射使背景整体变亮,划痕对比度被压缩,直接排除。环形光虽能成像,但拉丝纹理本身会产生大量方向性散射,与划痕信号混叠。因此低角度条形光是首选方向,但必须验证划痕走向与光条方向的匹配关系。

打光方案设计与验证

采用条形光时,关键参数是入射角和光条与划痕的夹角。入射角越小(越接近掠射),平整面反射越弱,划痕散射越突出,但光强利用率下降,需要提高亮度或延长曝光。

验证方法:固定相机与样件,将条形光以 15°、30°、45° 三档入射角分别拍摄,每档下旋转光源使光条与划痕夹角为 0°、45°、90°,共 9 组图像。对每组图像计算划痕区域与邻近背景的灰度差 ΔG,ΔG 最大者即为最优组合。

示例判读(教学假设数据,非实测):

  • 入射角 15°、夹角 90°:ΔG ≈ 85,划痕清晰,背景暗且均匀
  • 入射角 30°、夹角 90°:ΔG ≈ 62,划痕可见,背景略亮
  • 入射角 45°、夹角 90°:ΔG ≈ 38,对比度下降
  • 夹角 0°(光条平行划痕):各角度下 ΔG 均 < 20,划痕几乎不可见
若现场无法旋转光源,可旋转样件使划痕垂直于光条,效果等价。对于多方向划痕,需采用两组正交条形光分时拍摄后融合,或改用圆顶光降低方向敏感性。

最终方案与参数记录

综合判断,本例最优打光方案为:低角度条形光,入射角 15°,光条垂直于划痕走向。该方案下平整拉丝面反射光偏离相机,划痕边缘散射光进入相机,形成暗背景上的亮线,对比度最高。

实施时需记录以下参数以便复现:光源型号与发光面尺寸、入射角、工作距离、光条与划痕夹角、相机曝光时间、增益、镜头光圈。更换样件或划痕方向变化时,优先调整夹角至 90°,再微调入射角。

条形光方向性强,若产线上划痕方向不固定,单一角度会漏检。此时应评估双光源正交分时方案,或改用环形光配合偏振片抑制拉丝纹理,但需重新验证对比度是否满足检测阈值。