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ATE测试程序开发教程

共计 30 章节
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01
ATE测试概述
什么是ATE测试 · ATE的作用 · ATE测试在半导体行业中的重要性
ATE测试概述
02
测试机台基础
常见测试机台（Teradyne J7… · Advantest V93000等） · 机台硬件组成（DIB
测试机台基础Teradyne
03
测试程序开发环境搭建
安装开发工具 · 配置环境变量 · 版本控制
测试程序开发环境…安装开发工具
04
测试语言基础
C++/Python在ATE中的应用 · 语法要点 · 常用库（如STL
测试语言基础C++/Python
05
测试向量（Pattern）基础
什么是测试向量 · vector格式（如STIL · WGL
Pattern测试向量
06
测试程序结构
主程序流程 · 初始化 · 测试组
测试程序结构主程序流程
07
测试仪器库调用
调用PE · PMU · AWG
测试仪器库调用PE
08
直流参数测试（DC测试）
连续性测试 · 漏电流测试 · 功耗测试
DC直流参数测试
09
交流参数测试（AC测试）
上升/下降时间 · 传播延迟 · 建立/保持时间
AC交流参数测试
10
功能测试
功能测试原理 · 向量加载 · 失效诊断
功能测试功能测试原理
11
边界扫描测试（JTAG）
IEEE 1149.1标准 · 边界扫描指令 · 测试程序实现
JTAG边界扫描测试
12
存储器测试
Memory BIST · 常见存储器测试算法（March C+… · 测试效率
存储器测试Memory
13
混合信号测试
ADC/DAC测试 · 采样率 · 信噪比
混合信号测试ADC/DAC
14
RF测试基础
射频测试参数（增益 · NF · P1dB）
RF测试基础
15
并行测试与多工位测试
并行测试原理 · 多工位同步 · 良率提升策略
并行测试多工位测试
16
测试程序调试技巧
Debugging工具 · 断点设置 · 日志分析
测试程序调试技巧Debugging
17
测试数据分析与报告
数据采集 · 统计方法（CPK · UTY）
测试数据分析报告
18
测试程序优化
减少测试时间 · 提高吞吐量 · 代码优化
测试程序优化减少测试时间
19
测试覆盖率与DFT
扫描链 · BIST · ATPG
DFT测试覆盖率
20
自动化测试流程
脚本化测试 · CI/CD集成 · 自动化结果判断
自动化测试流程脚本化测试
21
测试硬件接口
DIB设计要点 · 探针卡 · Socket
测试硬件接口DIB
22
温度测试
高温/低温测试 · 温度补偿 · 热管理
温度测试高温
23
老化测试（Burn-in）
老化测试目的 · 实验设计 · 寿命预测
Burn-in老化测试
24
测试程序版本管理
Git使用 · 分支策略 · 标签
测试程序版本管理Git
25
测试程序文档编写
注释规范 · 用户手册 · 技术文档
测试程序文档编写注释规范
26
实际案例
一个简单IC的ATE测试程序从头开发…
实际案例IC
27
实际案例
模拟IC（运放）的ATE测试程序开发
实际案例IC
28
实际案例
RFIC（PA）的ATE测试程序开发
实际案例RFIC
29
测试程序故障排查
常见故障现象及解决方案 · 经验分享
测试程序故障排查常见故障现象
30
课程总结与未来趋势
ATE技术的发展 · AI在测试中的应用 · 职业发展建议
课程总结未来趋势