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ATE测试方案设计与实现

共计 30 章节
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01
ATE测试概述
ATE的定义 · ATE在半导体产业中的角色 · 测试方案的基本组成
ATE测试概述
02
测试硬件基础
探针卡（Probe Card） · 负载板（Load Board） · Socket的结构与选型
测试硬件基础Probe
03
测试系统架构
主流ATE平台（Teradyne · Advantest · Chroma）的硬件架构与软件栈
测试系统架构ATE
04
测试向量基础
测试向量格式（STIL · WGL） · 向量生成原理
测试向量基础STIL
05
数字测试基本原理
DC测试（直流参数） · AC测试（交流参数） · 功能测试
数字测试基本原理DC
06
测试程序开发流程
测试规范解读 · 测试方案设计 · 代码实现
测试程序开发流程测试规范解读
07
ATE编程语言入门（STIL/WGL/TDL）
关键脚本结构 · 变量与数据类型 · 控制流程
ATESTIL/WGL/TDL
08
数字通道配置
通道映射（Channel Map） · 电平设置（VIH/VIL/VOH/V… · 时序设置（DDR/SDR）
数字通道配置Channel
09
DC参数测试实现
短路测试 · 开路测试 · 漏电流测试
DC参数测试实现
10
AC参数测试实现
上升/下降时间 · 建立/保持时间 · 时钟抖动
AC参数测试实现
11
功能测试向量开发
从仿真波形到ATE向量 · 向量压缩与优化 · Pattern Debug技巧
功能测试向量开发ATE
12
动态电流测试
IDDx测试 · 功耗分析 · 电流波形捕获与均值计算
动态电流测试IDDx
13
测试数据采集与处理
ATE数据采集原理 · 数字捕获（Capture） · 模拟采集（DAC/ADC）
测试数据采集处理
14
混合信号测试基础
ADC/DAC测试 · 信噪比（SNR） · 谐波失真（THD）
混合信号测试基础ADC/DAC
15
射频（RF）测试入门
S参数 · 功率测量 · 线性度测试
RF射频
16
存储器测试
NAND/NOR Flash · DRAM · SRAM的测试原理与BIST集成
存储器测试NAND/NOR
17
边界扫描测试（JTAG）
IEEE 1149.1标准 · 边界扫描链测试 · 互连测试
JTAG边界扫描测试
18
DFT（可测性设计）与ATE配合
扫描链（Scan Chain） · 内建自测试（BIST） · 压缩测试
DFTATE
19
测试良率分析
良率模型 · 失效定位 · 良率损失归因
测试良率分析良率模型
20
测试时间优化
并行测试 · 多站点测试 · 向量压缩
测试时间优化并行测试
21
测试KPI与成本
测试成本组成（CoT） · 测试时间与良率权衡 · 测试设备折旧
KPI测试
22
测试程序调试与验证
仿真环境搭建 · 硬件在环测试 · FIB验证
测试程序调试验证
23
ATE自动化脚本开发
使用Python/Perl/Tcl自… · 批量修改程序 · 数据分析
ATE自动化脚本开发
24
测试数据分析与可视化
Schi Plot · Binning分析 · Shmoo Plot
测试数据分析可视化
25
多个测试头（Multi-head）架构与并行策略
资源分配 · 同步机制 · 负载均衡
Multi-head多个测试头
26
高温/低温测试（温度工程）
温度循环 · Tj控制 · 温度补偿算法
高温低温测试
27
老化测试（Burn-in）
加速寿命测试原理 · 失效机理 · 老化板设计与监控
Burn-in老化测试
28
测试设备校准与维护
校准周期 · 标准件 · 重复性与再现性（GR&R）
测试设备校准维护
29
ATE新平台迁移
从旧平台到新平台的向量转换 · 时序重定义 · 程序重构
ATE新平台迁移
30
ATE测试方案综合案例
以一颗SoC芯片为例 · 从规格到量产测试的完整方案设计与实现
ATE测试方案综合案例