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PCB阻抗量产测试与CPK分析指南

共计 30 章节
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01
阻抗测试基础
特性阻抗的定义 · 单位 · 常见值（50Ω/75Ω/100Ω）
阻抗测试基础特性阻抗的定义
02
PCB制造工艺对阻抗的影响
介电常数（Dk） · 损耗因子（Df） · 铜箔粗糙度
PCB制造工艺对阻抗的…
03
阻抗测试方法概述
TDR（时域反射计）原理 · VNA（矢量网络分析仪）原理 · 四线法
阻抗测试方法概述TDR
04
TDR测试原理
阶跃脉冲发送 · 反射信号分析 · 上升时间与分辨率关系
TDR测试原理
05
TDR校准与设置
开路/短路/负载校准 · 参考平面设置 · 去嵌（De-embedding）技术
TDR校准
06
VNA测试原理
S参数测量 · 阻抗转换公式（Smith圆图基础） · 带宽与精度权衡
VNA测试原理
07
VNA校准方法
SOLT校准 · TRL校准 · 电子校准套件使用
VNA校准方法
08
阻抗测试标准
IPC-2141 · IPC-2251 · JEDEC
阻抗测试标准IPC-2141
09
测试耦合板（Coupon）设计
IPC标准耦合板 · 嵌入式行波耦合板 · 同侧耦合板
Coupon测试耦合板
10
量产测试流程
来料检验 · 首件验证 · 批量抽检规则
量产测试流程来料检验
11
测试夹具与探针
微带探针 · GSG探针 · 同轴夹具
测试夹具探针
12
阻抗测试数据采集
自动化测试系统搭建 · GPIB/USB通信 · 数据存储格式
阻抗测试数据采集自动化测试系统搭…
13
CPK（过程能力指数）概念
Cp · Cpk · Pp
CPK过程能力指数
14
CPK计算方法
样本均值 · 标准差 · 规格上下限
CPK计算方法
15
CPK与良率关系
Z值 · 正态分布假设 · DPPM换算
CPK良率关系
16
CPK分析前提
数据正态性检验（Shapiro-Wi… · Anderson-Darling） · 稳定性判定
CPK分析前提
17
异常数据处理
离群值识别（IQR法 · Grubbs检验） · 数据平滑与滤波
异常数据处理IQR
18
量测系统分析（MSA）
测量重复性（GRR） · 再现性 · 测量系统偏倚与线性
MSA量测系统分析
19
阻抗测试系统GRR实例
10个样品 · 3名操作员 · 2次重复
GRR阻抗测试系统
20
温度与湿度对阻抗测试的影响
介电常数随温湿度变化曲线 · 补偿方法
温度湿度对阻抗测试的…
21
铜厚变化对阻抗的影响
基铜厚度 · 蚀刻误差 · 电镀均匀性控制
铜厚变化对阻抗的…基铜厚度
22
线宽/线距公差对阻抗的影响
蚀刻因子 · 侧蚀量 · 桥接缺陷
线宽线距公差对阻抗的…
23
叠层结构设计对阻抗的控制
对称结构 · 高/低DK介质组合 · 半固化片选择
叠层结构设计对阻…对称结构
24
阻抗测试中的常见问题
探头接触不良 · 地弹噪声 · 反射折叠
阻抗测试常见问题
25
量产CPK监控报告
控制图（X-bar R图） · 过程趋势分析 · 异常报警阈值
CPK量产
26
CPK与SPC结合应用
短期/长期能力指数 · 过程偏移判定 · 持续改进
CPKSPC
27
不同损耗等级阻抗要求
常规FR4 · 高速材料（M6/M7） · PTFE材料
不同损耗等级阻抗…FR4
28
阻抗补偿设计
线宽补偿 · 介质厚度补偿 · 铜箔粗糙度补偿模型
阻抗补偿设计线宽补偿
29
量产测试数据分析工具
Python（pandas/scip… · Excel模板 · Minitab
量产测试数据分析…Python
30
案例实战
某10层高速背板阻抗CPK改善全过程…
案例实战CPK